Occasion JEOL JEM 2000FX #9239696 à vendre en France

JEOL JEM 2000FX est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie avancée et l'analyse de structures nanométriques. Il dispose d'un détecteur haute résolution, d'un fonctionnement à pression variable et d'une large gamme d'options de montage d'échantillons. JEM 2000FX dispose d'un détecteur haute résolution de 3,5 mégapixels capable de produire des images d'échantillons de travail avec une résolution de 0,6 nanomètre. Cela permet une imagerie et une analyse détaillées sur de petits objets nanométriques. De plus, le détecteur peut détecter des électrons secondaires, des électrons réfléchis et des électrons transmis. Ce système multifaisceaux est conçu pour faciliter et accélérer l'acquisition et le traitement des images. JEOL JEM 2000FX est capable de fonctionner dans des modes à pression variable et à vide élevé. En faisant varier la pression à l'intérieur de la chambre du microscope, on peut contrôler l'interaction entre le faisceau incident d'électrons et l'échantillon, ce qui permet une meilleure résolution. De plus, grâce à la capacité supplémentaire de neutralisation secondaire, le processus d'imagerie peut également être amélioré. JEM 2000FX offre également une large gamme d'options de montage d'échantillons, y compris cryo-SEM, disque tournant, et étapes de préparation. Ces caractéristiques permettent l'imagerie et l'analyse efficaces de divers échantillons, tels que des échantillons biologiques ou des microstructures. Enfin, le microscope est livré avec une gamme d'options logicielles avancées, telles que la tomographie 3D, l'analyse spectrale ou la mesure de la taille des particules, permettant aux chercheurs d'analyser et de traiter leurs échantillons de travail rapidement et avec précision. En conclusion, JEOL JEM 2000FX est un microscope électronique à balayage de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse avancées sur des échantillons nanométriques. Il est capable de produire des images haute résolution et offre de multiples options de montage de spécimens et d'analyse logicielle, ce qui en fait un choix idéal pour toute personne dans le domaine de la recherche à l'échelle nanométrique.