Occasion JEOL JEM 2000FX #9265721 à vendre en France

ID: 9265721
Transmission Electron Microscope (TEM) Low magnifications: < 20,000x Diffraction contrast imaging With small objective aperture Electron diffraction patterns Dynamic range patterns Accelerating voltage: 80 - 200 kV Magnification: 1000000x Lab 6 source: Point image: 0.28 nm Lattice image: 1.4 nm Eucentric side entry goniometer stage Specimen size: 3 mm Tilt angle: Up to 25° (Double tilt holder) Specimen holders: Single tilt GATAN Double tilt: +25°C.
JEOL JEM 2000FX est un microscope électronique à balayage à émission de champ (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution, ainsi que des capacités d'analyse. Les performances puissantes de JEM 2000FX en ont fait l'un des microscopes électroniques à balayage les plus populaires et les plus fiables disponibles. JEOL JEM 2000FX dispose d'une plage de grossissement augmentée jusqu'à 1,2 million de fois et d'un grossissement efficace de 1000X, permettant aux utilisateurs de visualiser les spécimens à un niveau de détail très élevé. Ce microscope est également livré avec un équipement de stigmatisation automatisé, qui permet aux utilisateurs de régler rapidement et avec précision la position du canon à électrons, ainsi que l'ouverture objective. JEM 2000FX est livré avec une gamme de capacités d'imagerie et d'analyse, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée et la spectroscopie, l'imagerie des électrons secondaires sélectionnés par la source, l'imagerie annulaire en champ sombre et la spectrométrie aux rayons X. Le microscope est équipé d'un système de filtrage d'énergie qui peut être utilisé pour rejeter efficacement les électrons entrants tout en permettant le passage d'électrons de haute énergie. Cela permet aux utilisateurs d'effectuer une grande variété d'analyses, telles que la cartographie chimique et élémentaire, l'analyse de phase, la mesure des souches et la spectroscopie. En outre, JEOL JEM 2000FX est également équipé d'une optique électronique avancée, qui comprend un canon à émission de champ et deux lentilles à condenseur multi-ouvertures. Cette machine réduit considérablement l'aberration chromatique et les distorsions électriques, offrant des images avec une résolution et un contraste superbes. Le microscope comprend également un outil de canon à deux électrons qui permet l'imagerie et l'analyse simulées de deux régions différentes en utilisant deux positions de canon différentes. JEM 2000FX est également facile à utiliser, avec une interface utilisateur entièrement intégrée avec des fonctions de contrôle d'écran tactile et de traitement des données. Cela permet aux utilisateurs d'acquérir rapidement et efficacement des images SEM, d'analyser les données et de les traiter pour de futures applications. Le microscope est livré avec un outil automatisé de montage d'échantillons qui permet aux utilisateurs de charger et d'analyser rapidement et facilement des échantillons. Dans l'ensemble, JEOL JEM 2000FX est un outil puissant et fiable conçu pour fournir aux utilisateurs le plus haut niveau d'imagerie, ainsi qu'un large éventail de capacités d'analyse. Ce microscope électronique à balayage avancé est idéal pour les chercheurs qui cherchent à atteindre les plus hauts niveaux de résolution et de précision.
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