Occasion JEOL JEM 200CX #293751172 à vendre en France

JEOL JEM 200CX est un microscope électronique à balayage ultra haute résolution (SEM) adapté à l'analyse, l'imagerie et l'inspection d'échantillons. Le 200CX dispose d'un étage avancé de microscope électronique à colonne et analyseur à haute résolution (UHR) de type hématite FE-SEM, permettant aux utilisateurs de capturer des images avec une résolution latérale maximale d'environ 0,3 nanomètres et une résolution de transfert de 0,8 nanomètres. Le 200CX offre également une excellente stabilité au vide et une capacité d'émission de champ magnétique qui peut maintenir le niveau de vide jusqu'à 24 heures. La gamme de faible puissance du JEOL JEM 200 CX est, à son ouverture la plus large, 2kV et 20nA et sa gamme de puissance la plus large en 160kV et 20nA. Des grossissements plus élevés peuvent être obtenus avec jusqu'à 500kV et 40nA disponibles. Le 200CX fournit aux utilisateurs une pression de vide élevée de 2,6x10-6 torr, offrant une excellente stabilité d'image et le contraste. Le 200CX dispose d'un système EDX Oxford Instruments intégré, permettant à l'utilisateur d'effectuer une analyse élémentaire sur des échantillons. Le 200CX comporte à la fois un joystick à quatre axes et un étage X-Y automatisé, permettant à l'utilisateur de positionner l'échantillon en question rapidement et avec précision. Un étage SEM ultra haute résolution avancé a été intégré, offrant une résolution exceptionnelle de 0,3 nanomètres, tandis que le système intégré de contrôle de la déviation permet d'ajuster l'image de façon beaucoup plus nette. Le 200CX comporte également un porte-échantillons poli extérieur pour placer les échantillons inspectés, ce qui permet d'observer directement les surfaces des échantillons et d'autres détails fins. Les utilisateurs peuvent également bénéficier de l'imagerie 3D et d'un grand champ de vision, en raison de la capacité de numérisation hi-rez de la surface de l'échantillon du 200CX. En outre, le 200CX dispose d'un contrôle de focalisation manuel et d'un contrôle automatisé du déplacement des échantillons qui peuvent être installés dans le même logiciel que le microscope, permettant aux utilisateurs de contrôler le foyer et de localiser et d'analyser plus précisément les échantillons sur la scène. En conclusion, le MJE 200CX est un microscope électronique à balayage ultra haute résolution adapté à l'analyse d'échantillons, à l'imagerie et à l'inspection. Le 200CX offre d'excellentes performances et caractéristiques telles qu'une pression de vide élevée de 2,6x10-6 torr, un système EDX d'Oxford Instruments pour l'analyse élémentaire, un joystick quatre axes intégré et un contrôle automatique de l'étage X-Y, un porte-échantillon poli externe, et une résolution latérale maximale de 0,3 nanomètres. Cela fait du 200CX un excellent choix pour les chercheurs et les scientifiques à la recherche d'un SEM hautement polyvalent et fiable.