Occasion JEOL JEM 200CX #9243562 à vendre en France

JEOL JEM 200CX
ID: 9243562
Transmission Electron Microscope (TEM).
Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 200CX est un instrument d'analyse à haute performance utilisé pour l'étude de matériaux et d'échantillons biologiques à l'échelle nanométrique. Cet équipement polyvalent est doté d'une source d'électrons à haute stabilité, basse tension et champ d'émission dans la lentille, qui permet d'analyser des matériaux souples et des échantillons épais à haute résolution. Il est doté d'une chambre de 180 mm de diamètre et d'une structure de navigation à quatre axes qui permet de parcourir un champ de vision étendu. Le détecteur d'électrons secondaires (SE) du 200CX permet une analyse à faible contraste des caractéristiques de surface des échantillons, tandis qu'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) est disponible pour l'imagerie à plus fort contraste. Des systèmes d'extraction d'ions sont également disponibles pour permettre une analyse des surfaces de spécimens peu endommagées. JEOL 200CX est capable de produire des résolutions d'imagerie supérieures à 0,8 nm en mode SE, et supérieures à 1,2 nm en mode ESB. Il a une alimentation compensée en tension intégrée, et peut fonctionner à des courants de faisceau de 2 nA à 20 nA pour l'excitation du faisceau de rayons X. En outre, le système peut détecter des longueurs d'onde X de 2,5 keV à 22 keV. Une source d'électrons d'émission Schottky optionnelle peut également être ajoutée à l'unité, augmentant les résolutions d'imagerie dans les modes SE et ESB. Le 200CX dispose d'une large gamme de fonctionnalités et de capacités supplémentaires. Un appareil photo numérique intégré est disponible pour les applications de vidéo et d'imagerie numérique. L'outil comprend également un atout automatisé d'alignement de spécimen-auto-stigmate, et un contrôleur de modèle pour la numérisation automatisée et l'acquisition de données. Il dispose d'un ensemble robuste de logiciels pour le contrôle de l'utilisateur. De plus, les données recueillies dans différents modes tels que la SE, l'ESB ou les rayons X peuvent être combinées de manière souple pour former des combinaisons d'images pour l'analyse et la visualisation en 3 dimensions. Dans l'ensemble, JEOL JEM 200 CX offre une large gamme de caractéristiques et d'avantages pour la recherche nanométrique et biologique. Grâce à sa conception soignée et à ses performances avancées, le 200CX est un équipement de microscope idéal pour les chercheurs qui ont besoin de résultats fiables et de haute précision.
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