Occasion JEOL JEM 2010 #293627916 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage moderne fabriqué par la société japonaise JEOL Ltd. C'est le premier instrument d'ultra-distorsion à haute résolution de la société, doté d'un pistolet à émission de champ froid et d'un correcteur d'aberration. Cela lui permet de fournir une clarté d'image exceptionnelle et un contraste inégalé aux faibles grossissements ainsi que des grossissements plus élevés pour plus de détails. Sa gamme de tension de fonctionnement s'étend jusqu'à 250 kV, ce qui le rend adapté à une grande variété d'échantillons, y compris de grands échantillons inorganiques. Ses détecteurs d'électrons secondaires et tertiaires dédiés permettent de collecter divers signaux, tels que des images de champ sombre annulaire rétrodiffusées et à angle élevé (HAADF). Cela donne aux utilisateurs plus de contrôle et de flexibilité lors de l'utilisation de l'instrument. JEOL JEM-2010 a également une conception de scène Gimbal en colonne, permettant une navigation d'échantillons plus précise et précise à des grossissements élevés. Ceci est important pour identifier certaines caractéristiques lorsque vous travaillez avec des échantillons qui nécessitent une navigation précise. En outre, JEM 2010 est équipé d'un détecteur EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy), permettant d'identifier les éléments présents dans les échantillons et de donner des indications sur leur composition. L'instrument dispose également d'une option de cryo-transfert qui permet de maintenir les échantillons à température constante pendant l'analyse, éliminant ainsi la possibilité de distorsion thermique et assurant une plus grande précision des résultats. Enfin, JEM-2010 dispose d'une étape automatisée et programmable, permettant d'effectuer facilement des tâches de routine avec un minimum d'effort de l'utilisateur et d'améliorer considérablement l'efficacité. L'instrument est également livré avec une série de logiciels, y compris le logiciel MultiMaster pour l'acquisition et l'analyse automatisée d'images, ce qui en fait un instrument tout-en-un pour la microscopie électronique.