Occasion JEOL JEM 2010 #293639508 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un appareil de microscopie électronique à balayage (SEM) riche en fonctionnalités spécialement conçu pour la recherche sur les matériaux, l'analyse des défaillances et l'ingénierie inverse. Il offre un large éventail de capacités pour fournir une imagerie haute résolution et des solutions. JEOL JEM-2010 utilise une combinaison de trois colonnes d'électrons, qui offrent une plage de visualisation de 15nm-10 μ m, avec une limite de résolution maximale de 1.2nm à 1kV. Il est équipé d'une sonde Cs avancée pour une focalisation optimale du faisceau et peut fonctionner à des courants élevés jusqu'à 200 μ A. Cela permet de contrôler le faisceau avec un haut niveau de précision et de précision. JEM 2010 est capable de produire une variété de modes d'imagerie qui permettent à l'utilisateur de révéler des caractéristiques de surface, et d'effectuer une cartographie élémentaire, grâce à Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDS). De plus, il est possible d'acquérir simultanément des caractéristiques électriques d'échantillons et des informations morphologiques en utilisant les capacités des mesures de courant induit par faisceau d'électrons (EBIC) et de perte d'insertion induite par faisceau d'électrons (EBIIL). JEM-2010 offre également une large gamme de colonnes SEM, chacune pouvant être adaptée à l'application en question. Le système antivibratoire JEOL SEM, composé d'amortisseurs d'air ou d'huile, assure un fonctionnement stable, tandis que l'unité de découpe automatique du faisceau protège la lentille objective et la surface de l'échantillon du faisceau d'électrons. L'étage spécimen de ce microscope est interchangeable et motorisé pour un fonctionnement manuel ou de programmation et a une plage de course de 110 mm en X, 80 mm en Y, et 20 mm en Z directions. En outre, il est équipé d'un échangeur automatique d'échantillons et de plusieurs options de refroidissement d'échantillons telles que l'extenseur à basse température optionnel. JEOL JEM 2010 dispose également d'une machine de commande électronique automatisée pour corriger la dérive de l'échantillon et focaliser le faisceau en temps réel, ainsi que d'un puissant logiciel de traitement d'image qui peut être utilisé pour analyser les données. Avec ses multiples porte-échantillons, ses puissantes capacités d'imagerie et ses fonctionnalités avancées, JEOL JEM-2010 est l'outil parfait pour l'analyse détaillée et l'imagerie des échantillons.