Occasion JEOL JEM 2010 #293741442 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) conçu pour offrir des performances d'imagerie supérieures et une efficacité opérationnelle maximale. Il est équipé d'une colonne optique électronique améliorée et d'un détecteur électronique secondaire de haute performance, qui assure le plus haut niveau de clarté et de résolution d'image. Ce microscope a une résolution maximale de 15mm à 30 kV, et une taille d'image projetée de 1 micron ou moins. Sa plage de grossissement est de 15x à 300.000x, avec la possibilité de commuter facilement entre différents modes d'imagerie SEM. JEOL JEM-2010 dispose également d'un étage d'échantillonnage automatisé avancé avec des capacités de mise au point automatique et un équipement d'imagerie numérique très polyvalent. Cela permet une acquisition d'image dynamique et une analyse rapide. Il offre une large gamme de possibilités d'imagerie de spécimens : de l'agrandissement ultra-élevé pour l'imagerie SEM, à l'agrandissement faible pour les analyses de surface de grande surface. Il est également équipé d'un système intégré de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) pour l'analyse détaillée des grains. Il peut simultanément acquérir des images de champ lumineux, de champ sombre et de lumière polarisée. JEM 2010 a augmenté l'efficacité et le débit avec des fonctionnalités telles que l'alignement automatique de l'échantillon à l'aide de la vélocimétrie de l'image des particules, le centrage des échantillons assistés par logiciel et les améliorations automatisées de l'image. Pour l'automatisation avancée et les mesures 2D et 3D, JEM-2010 dispose d'un logiciel de capture et d'analyse d'AutoVision. Cette unité d'imagerie automatisée comporte une reconnaissance, une classification et une analyse avancées des motifs, ainsi qu'une reconstruction stéréo complète des couleurs pour s'assurer que les résultats du microscope sont précis et fiables. JEOL JEM 2010 est conçu avec des commandes faciles à utiliser et une interface utilisateur facile à utiliser, ce qui le rend idéal pour les installations de recherche et d'enseignement. Il est même adapté aux lignes de production avancées, avec son temps de retournement rapide et ses commandes intuitives. Ce microscope électronique à balayage a un concept de conception modulaire, avec la compatibilité standard de la salle blanche et les fonctions avancées de la machine. Avec un haut degré d'automatisation, des mécanismes de sécurité et des supports globaux, JEOL JEM-2010 est un choix fiable de SEM pour toutes les applications de recherche et de production.