Occasion JEOL JEM 2010 #293751171 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage avancé, conçu pour l'imagerie et l'analyse d'objets nano-échelle. Il s'agit d'un appareil d'imagerie numérique doté d'une résolution spatiale incroyablement élevée de 3,2 nm, de capacités avancées de préparation d'échantillons, d'un équipement d'imagerie contrôlé par contraste et de fonctionnalités d'analyse in situ. Le microscope peut être utilisé pour de nombreux types d'applications d'imagerie et d'analyse, telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée, l'imagerie électronique secondaire, la microanalyse aux rayons X, la sonde à courant de Foucault, la cartographie élémentaire, l'analyse de composition de phase et l'analyse de composition chimique. En outre, JEOL JEM-2010 est équipé d'un étage d'échantillonnage contrôlé par ordinateur à 5 axes, qui permet à l'opérateur d'effectuer des tâches d'imagerie et d'analyse sous différents angles avec une extrême précision. En plus de ses capacités d'imagerie, JEM 2010 est équipé d'un système avancé de radiographie dispersive d'énergie (EDX) qui permet aux utilisateurs d'effectuer des analyses élémentaires sur leurs échantillons avec une grande sensibilité et précision. Cette unité utilise une plage d'analyse de 0 à 100 kV et peut détecter des éléments à un niveau atomique. De plus, le détecteur EDX permet une cartographie rapide de chaque élément détecté dans un échantillon, permettant l'imagerie de la distribution élémentaire. JEOL 2010 est également équipé d'un appareil photo numérique qui permet de capturer des images de la scène d'imagerie avec des résolutions allant jusqu'à 15,6 mégapixels. Ce module fournit à l'utilisateur des flux d'images en direct en haute résolution, qui peuvent être utilisés pour l'imagerie, l'observation ou le partage de résultats avec des collègues. Enfin, JEM-2010 est équipé d'une machine EDGE qui permet aux utilisateurs de sonder leurs échantillons dans un champ électrique. Cet outil utilise des énergies allant jusqu'à 4 keV et peut être utilisé pour diverses tâches telles que la détection des défauts, l'analyse de surface, la gravure des métaux et l'analyse des alliages. Dans l'ensemble, JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage avancé avec des capacités d'imagerie exceptionnelles et des fonctions analytiques puissantes. Sa conception polyvalente et conviviale en fait un outil idéal pour un large éventail d'applications scientifiques, industrielles et éducatives.