Occasion JEOL JEM 2010 #293754755 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour produire des images extrêmement haute résolution de la surface de matériaux biologiques et non biologiques. Il présente une haute performance 30kV schottky l'émetteur de terrain, qui produit un faisceau d'électrons avec le haut éclat et une petite grandeur croisée. Ceci assure une excellente cohérence et résolution du faisceau, permettant l'acquisition d'images de haute qualité et l'analyse détaillée des microstructures de divers matériaux. JEOL JEM-2010 offre une variété de techniques d'imagerie, qui peuvent être utilisées pour acquérir différents types de données. Il s'agit notamment de l'imagerie électronique secondaire (SEI), de l'imagerie électronique rétrodiffusée (BSEI) et de l'imagerie cathodoluminescente (CLI). Toutes ces techniques peuvent être utilisées pour étudier divers matériaux, tels que les métaux, les polymères et les couches minces. De plus, l'instrument peut également être utilisé pour analyser l'information de microstructure, la cartographie élémentaire à haute résolution et la microanalyse des rayons X. JEM 2010 est conçu pour une fiabilité maximale, offrant de longues heures de fonctionnement et un temps d'arrêt minimal. Il dispose d'un système d'optique électronique nouvellement développé, permettant un fonctionnement stable et des performances d'image supérieures. Il est également équipé d'une grande chambre d'échantillonnage de 12 cm x 12 cm pour faciliter la manipulation des échantillons et le déplacement des échantillons. En outre, JEM-2010 offre une chambre d'échantillonnage environnementale intégrée et un système d'injection de gaz, qui peut être utilisé pour des observations environnementales et la préparation d'échantillons. L'instrument est très convivial, avec des opérations automatisées et un panneau de commande tactile de 9 pouces. Il permet également aux utilisateurs de sauvegarder, récupérer et analyser facilement les données. JEOL JEM 2010 est également équipé d'un ordinateur de microanalyse dédié, spécialement conçu pour analyser les images SEM et dispose de puissantes capacités de traitement d'image. JEOL JEM-2010 offre des performances d'imagerie supérieures et convient à l'imagerie d'une large gamme de matériaux. C'est un instrument idéal pour des applications telles que l'analyse des échecs, le contrôle des processus et la recherche et développement. En outre, sa conception modulaire et ses fonctionnalités avancées le rendent idéal pour une variété de tâches d'imagerie.