Occasion JEOL JEM 2010 #293797155 à vendre en France
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ID: 293797155
Transmission Electron Microscope (TEM)
OXFORD INCA X-Sight
OXFORD Link ISIS EDX System
GATAN MultiScan 794 CCD Camera
Cathodes: Lab6 With filament
VARICON De-Vere 504 Enlarger
Camera pixel size: 1024 x 1024
Operating voltage: 120-200 kV.
JEOL JEM 2010 est un microscope STEM (à balayage-transmission électronique) d'une résolution de 0,25 nm et d'une tension d'accélération de 0,01 à 100 KV, idéal pour répondre aux besoins des applications avancées d'analyse et d'imagerie 3D. Il offre des performances exceptionnelles avec son optique révolutionnaire de faible alignement. La technique de faible alignement permet une grande flexibilité et des analyses rapides et fiables des échantillons à l'échelle nanométrique. Ce microscope de pointe est équipé d'un détecteur EDX (energy-dispersive X-ray) pour une analyse élémentaire précise. De plus, JEOL JEM-2010 est équipé d'un détecteur de microscopie électronique à super transmission (STEM) et de détecteur Nano-ouverture (NA). Le détecteur STEM permet à l'utilisateur d'augmenter la résolution et de choisir la plage de grossissement optimale tandis que le détecteur NA fournit de superbes images haute résolution de nanostructures. JEM 2010 dispose également d'un système d'imagerie avancé, avec un IPS (logiciel de traitement d'images) qui fournit jusqu'à 12 images par seconde (fps) d'imagerie à 0,2 milliseconde temps d'intégration, qui est idéal pour les images de champ lumineux et multi-angles de champ sombre. Le système de traitement d'image est puissant et efficace pour l'imagerie submicronique de matériaux avec une large gamme de contraste. JEM-2010 utilise également une phase de conduite Z à grande vitesse pour un déplacement facile et précis de l'échantillon et permet une tomographie à haute résolution des particules nanométriques. En outre, JEOL JEM 2010 a une excellente résolution et contraste avec son correcteur Cs intégré à haut rendement pour corriger les aberrations chromatiques. Il offre également des capacités analytiques sophistiquées avec ses cryo-étages intégrés pour l'imagerie cryogénique, permettant l'imagerie des formes de vie dans leur environnement naturel. Ce système polyvalent est capable d'effectuer une grande variété d'expériences, allant d'une simple analyse élémentaire à des applications complexes d'imagerie 3D, ce qui en fait un choix idéal pour la recherche avancée en microscopie électronique. Ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées, combinées à l'optique à faible alignement, font de JEOL JEM-2010 l'instrument parfait pour la recherche de matériaux nanométriques et de formes de vie.
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