Occasion JEOL JEM 2010 #293799508 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de produire des images sous-microns à haute résolution. Il est capable d'imagerie SEM à grande vitesse, de diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) et de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS). JEOL JEM-2010 peut accueillir jusqu'à 2 échantillons pour l'imagerie simultanée, ce qui permet une commutation rapide et efficace des échantillons. Le MJE 2010 est équipé d'un canon à source d'émission de champ (FEI), qui permet au microscope d'atteindre un haut niveau de résolution. Il dispose d'un équipement d'alignement de canon à trois étages pour une inclinaison et une stigmatisation optimales du faisceau, ainsi que d'une optique électronique avancée et d'une optique électronique pour des performances optimisées. Le système offre une plage de fonctionnement de 2 à 200kV, avec des émetteurs à effet de champ traditionnels et Schottky disponibles pour une combinaison de flexibilité et de haute performance. JEM-2010 est capable d'imagerie rapide avec l'utilisation de son détecteur d'électrons secondaire dans la lentille, ce qui minimise le temps nécessaire pour le réglage du balayage et le réglage fin. L'unité dispose également d'un détecteur d'électrons de rétrodiffusion avec un scintillateur qui maximise le champ de vision pour une résolution de rétrodiffusion optimale. En outre, la machine est capable de chauffer des échantillons avec son équipement Präcision GmbH, conçu pour des applications spécifiques de microscopie électronique. L'outil est livré avec une variété d'options d'imagerie, y compris des capacités de fonctionnement à vide faible et à vide élevé, permettant l'imagerie dans l'air ou sous un vide contrôlé. En outre, il est équipé d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED) standard à 4 quadrants dans les lentilles, avec un rapport signal sur bruit supérieur à 6000:1. JEOL JEM 2010 est livré avec un atout unique de manipulation de spécimen, permettant d'effectuer des étapes d'échantillonnage fines de 1 nm en boucle fermée. Le modèle dispose également d'un détecteur EBSD sans chrome pour l'imagerie topographique amplifiée. Ensemble, ces caractéristiques facilitent l'analyse rapide et efficace des caractéristiques des échantillons telles que l'identification de phase, la taille des grains et les orientations cristallographiques. JEOL JEM-2010 est également équipé de capacités d'imagerie en direct, permettant l'imagerie directe de matériaux biologiques et catalytiques pendant qu'ils subissent des réactions in situ. En outre, l'équipement peut s'intégrer à des systèmes d'essais sous vide tiers. JEM 2010 est un système puissant et polyvalent qui fournit des performances supérieures pour une variété de tâches. Ses capacités d'imagerie haute résolution, associées au chauffage des échantillons et aux fonctions d'imagerie EBSD, en font un choix idéal pour les applications biologiques, géologiques et scientifiques des matériaux.