Occasion JEOL JEM 2010 #293827624 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 2010 (SEM) est un modèle de microscope électronique conçu pour aider à produire des images à haute résolution et des micrographies de matériaux et de surfaces au niveau du nanomètre. Ce SEM particulier a été conçu pour augmenter la productivité et le débit des utilisateurs avec une large gamme de fonctionnalités intégrées, y compris les dernières technologies de pointe. JEOL JEM-2010 est équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) et d'une large gamme de tensions d'accélération de 1 kV à 30 kV, ce qui en fait l'un des SEM les plus polyvalents disponibles. En outre, son système d'imagerie numérique comprend à la fois un grand champ d'image jusqu'à 20 cm et une excellente résolution. Le fonctionnement flexible est également possible grâce à l'interface utilisateur facile à utiliser et à la capacité de commuter rapidement entre différents étages de spécimen sans modifier les paramètres du SEM. L'objectif du MJE 2010 est spécifiquement conçu pour fournir des performances supérieures pour l'observation et l'analyse des échantillons. L'utilisation de techniques avancées d'optique électronique, telles que la réduction dynamique de l'étalement du faisceau d'électrons, et l'application de stigmates de champ magnétique, permet au faisceau d'électrons d'être mieux focalisé et plus précis. En outre, l'objectif haute puissance fournit également une excellente profondeur de focalisation pour des images parfaites et claires. JEM-2010 offre également une variété de modes d'imagerie, de la SEM conventionnelle à l'imagerie à vide faible et à vide élevé ainsi que des techniques d'inclinaison et de rotation, permettant la collecte d'une variété de données à partir d'un seul échantillon. La combinaison d'un étage omnidirectionnel actif et du contrôleur d'axe Z permet un contrôle fin supplémentaire sur l'échantillon. Dans l'ensemble, JEOL JEM 2010 est un SEM puissant et avancé qui a amélioré la qualité d'imagerie et la précision des données que les utilisateurs peuvent obtenir de leurs spécimens, leur permettant de faire leur travail ont le maximum d'impact.