Occasion JEOL JEM 2010 #9192793 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) idéal pour une variété de substrats allant du micron au nanomètre. Cet instrument puissant capture des images du monde atomique en utilisant des électrons pour créer une image tridimensionnelle qui peut être utilisée pour la recherche et les applications industrielles. JEOL JEM-2010 dispose d'un grand étage de 200mm de diamètre pour le placement de l'échantillon qui utilise la force électromagnétique pour atteindre jusqu'à 6 degrés de liberté, fournissant des mouvements précis et contrôlés de l'échantillon. Ce SEM dispose également d'un canon d'émission de champ haute résolution qui fournit une luminosité allant jusqu'à 10nA de courant de faisceau et 1nm de résolution de tache pour une qualité d'image exceptionnelle. De plus, un équipement optique électronique avancé, avec trois déflecteurs multifonctionnels et un système de commande d'ouverture objective, permet à l'utilisateur de capturer avec précision une image de l'échantillon. L'unité comprend une large gamme de capacités d'imagerie telles que l'imagerie électronique secondaire pour l'information de surface, l'imagerie électronique rétrodiffusée pour visualiser la topographie et la composition, et des détecteurs à haute résolution qui permettent à l'utilisateur d'image avec l'amélioration du contraste à haute résolution. En combinant ces capacités d'imagerie, JEM 2010 peut détecter des caractéristiques subtiles telles que la microstructure, les particules et les défauts dans une gamme d'applications. Cet instrument polyvalent fournit une mine d'informations analytiques. En plus de l'imagerie SEM, le détecteur de rayons X dispersifs en énergie (EDX) peut fournir des informations élémentaires. Les fonctions de contrôle automatisé, telles que les mouvements automatisés des étages et les paramètres en temps réel, réduisent le temps nécessaire à l'analyse. JEM-2010 est équipé d'une suite logicielle qui comprend des fonctions de traitement et d'analyse d'images. Cette suite complète, ainsi que des applications tierces, offre une grande variété d'options de traitement post-test incluant les reconstructions 3D, l'analyse spectrale et l'imagerie spectrale. Le logiciel offre également des options de contrôle de machine et de connectivité qui garantissent un flux de travail continu et efficace. En conclusion, JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage avancé et polyvalent qui offre une imagerie haute résolution et un large éventail de capacités analytiques. Sa conception conviviale et ses caractéristiques intégrées le rendent idéal pour les applications industrielles et de recherche.