Occasion JEOL JEM 2010 #9207418 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage (SEM) à la fine pointe de la technologie conçu pour fournir les images les plus haute résolution disponibles. Il est spécifiquement conçu pour offrir des capacités de cartographie avancées qui permettent aux utilisateurs d'étudier de nombreuses fonctionnalités en détail. JEOL JEM-2010 a été développé pour répondre aux exigences de la recherche en sciences des matériaux, des applications industrielles et médico-légales. L'équipement se compose de quatre composants principaux : la chambre de prélèvement, le détecteur (EMF/EDS/Super X), le canon à électrons et le système de contrôle. La chambre de prélèvement a un plancher de bruit faible permettant la plus haute qualité d'image sans avoir besoin de nettoyage ou d'accessoires supplémentaires. Le condenseur électrostatique et l'anode tournante de type cage Faraday permettent d'assurer une qualité d'image optimale avec peu ou pas d'artefacts d'image. Le canon à électrons est le moyen par lequel les électrons de toutes énergies sont accélérés et focalisés sur l'échantillon contenu dans la chambre. Il est équipé de lentilles en fibres de nickel qui permettent une interaction optimale faisceau/échantillon. Les caractéristiques du canon super X comprennent un contrôle de focalisation de haute intensité, des capacités de reconstruction très larges et une résolution accrue. L'unité de détec tor permet de détecter simultanément les signaux d'électrons, de rayons X et d'électrons secondaires qui sont générés dans le champ évanescent de l'échantillon. Le détecteur est très dynamique et sensible, ce qui le rend idéal pour capturer des images précises. La machine permet également l'utilisation simultanée des capacités EDX/WDS et Super X pour cartographier les échantillons avec la composition élémentaire et chimique ainsi que d'autres informations importantes. L'outil de contrôle fait partie intégrante du fonctionnement du MJE 2010. Il se compose d'une interface graphique utilisateur (UI) ainsi que d'une variété d'outils logiciels qui permettent aux utilisateurs de contrôler tous les aspects du fonctionnement, du courant et des conditions du faisceau à l'analyse et à la visualisation des données. Le logiciel permet également une intégration facile avec d'autres systèmes, tels que le logiciel de cartographie 3D et d'analyse d'image. JEM-2010 est un puissant microscope électronique à balayage haut de gamme qui offre une qualité d'image supérieure et des capacités de cartographie détaillées. C'est un outil idéal pour tout environnement de laboratoire impliqué dans la recherche et l'analyse à haute résolution. La combinaison de matériel et de logiciels supérieurs fait de JEOL JEM 2010 un excellent choix pour toute personne intéressée par le SEM le plus avancé.