Occasion JEOL JEM 2010 #9241415 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse cohérentes d'échantillons à une gamme de grossissements allant de moins de 10 × à plus de 100 000 ×. Il peut examiner rapidement et avec précision la surface de petits spécimens biologiques et non biologiques. JEOL JEM-2010 est équipé d'un équipement de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) qui lui permet d'analyser la composition élémentaire des échantillons. Cette caractéristique permet une analyse quantitative des espèces chimiques présentes dans les échantillons microscopiques. Le SEM est équipé d'un correcteur d'aberration chromatique de 1,2 nanomètre pour réduire le flou dans les images à des grossissements plus élevés. Il dispose également d'un portique à balayage rapide qui fournit les images les plus haute résolution de n'importe quel SEM dans sa classe. JEM 2010 a une surface active de 5mm x 5mm et une distance de travail de 20mm. Cela permet l'observation de petits échantillons sans nécessiter une distance excessive entre l'échantillon et l'objectif. Le coin supérieur droit de la zone active est situé plus près de la fenêtre de la chambre, ce qui permet d'obtenir des micrographies de meilleure qualité. Le système utilise également une unité d'imagerie numérique intégrée, qui fournit un niveau puissant de manipulation d'image. Cette fonctionnalité offre une gamme de fonctions incluant le zoom, l'agrandissement, l'ajustement du contraste, la netteté, le négatif et l'édition d'image non destructive. Il comprend également une mémoire d'image profonde 1K et la possibilité de stocker jusqu'à 5000 images. JEM-2010 dispose d'un étage commandé par ordinateur à 8 segments qui peut déplacer des objets jusqu'à 100mm horizontalement à une vitesse de 1mm/sec. Cette étape peut être utilisée pour cartographier les emplacements de diapositives et augmenter l'efficacité de la cartographie. Il intègre également un étage d'inclinaison 3D qui permet jusqu'à 10 degrés de mouvement sur deux axes, permettant un éclairage oblique pour permettre la perception de profondeur. La machine de commande de colonne intégrée permet une commutation rapide entre les conditions de balayage à vide faible et élevé. Cela permet au SEM d'effectuer une large gamme d'images allant des échantillons non conducteurs aux échantillons hautement conducteurs et des échantillons non magnétiques aux échantillons magnétiques, le tout avec un seul interrupteur. JEOL JEM 2010 est un paquet SEM impressionnant soutenu par une vaste liste de fonctionnalités. Sa polyvalence et ses puissantes capacités d'imagerie en font un excellent choix pour de nombreuses applications scientifiques, industrielles et académiques de microscopie électronique à balayage.