Occasion JEOL JEM 2010 #9277008 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) conçu pour des applications de recherche avancées. Il intègre une source d'électrons à pression variable à haut débit pour améliorer les performances de l'instrument. Ce microscope électronique à balayage est adapté à un large éventail d'applications d'imagerie et d'analyse, y compris la recherche fondamentale sur les solides et les liquides, le traitement et la caractérisation des matériaux, ainsi que l'analyse de la structure des dispositifs semi-conducteurs. JEOL JEM-2010 offre une grande variété de capacités analytiques, telles que la détermination de la composition élémentaire à l'aide de l'analyse des rayons X dispersifs énergétiques (EDXA) et l'analyse structurale des circuits semi-conducteurs par imagerie par électrons secondaires (SE). Ses autres caractéristiques comprennent le champ lumineux, le champ sombre, la polarisation et les options d'imagerie par diffraction électronique. JEM 2010 est équipé d'une colonne électronique haute performance, qui permet l'imagerie électronique secondaire dynamique de spécimens à des grossissements plus élevés. Ceci est encore renforcé par un système de déflexion du faisceau primaire d'électrons en colonne, donnant à l'utilisateur un contrôle précis du faisceau primaire d'électrons et permettant des réglages de focalisation plus faciles. La colonne de JEM-2010 est également capable d'une large gamme de tensions d'accélération, allant de 1 à 30 kV, pour répondre à différentes exigences d'imagerie et d'analyse. Ceci est complété par des capacités de balayage ultra haute résolution, avec une résolution minimale de 2,5 nm. Le champ de vision maximal est de 1000 μ m. La source d'électrons à haute pression à haut débit de JEOL JEM 2010 offre une excellente résolution dans la visualisation de détails plus fins des surfaces des échantillons, augmentant la productivité. Il offre également un environnement de fonctionnement efficace et confortable avec son environnement ergonomique qui dispose de contrôles de conception intuitifs. Enfin, JEOL JEM-2010 est soutenu par un excellent service à la clientèle et un soutien, fournissant aux utilisateurs l'assistance nécessaire à la maintenance et aux réparations afin d'assurer une performance optimale de l'instrument.