Occasion JEOL JEM 2010 #9278784 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre de puissantes capacités d'imagerie pour les laboratoires de recherche. Il dispose d'une tension d'accélération pouvant atteindre 30 kV, ce qui permet de capturer plus de détails avec une haute résolution. En outre, JEOL JEM-2010 dispose d'un champ de vision très large, avec une plage de zoom maximale d'un impressionnant 8.000x. En tant que tel, ce microscope est particulièrement utile pour agrandir des échantillons de petites caractéristiques, permettant un examen détaillé des structures regardées. Cet instrument est alimenté par une source de canon à émission de champ (FEG), minimisant le bruit de balayage du faisceau d'électrons et fournissant des images très détaillées à des grossissements incroyablement élevés. Cela permet une plus grande précision dans la mesure des caractéristiques telles que la taille, la forme et la composition. De plus, le système de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) du microscope permet une analyse quantitative de la composition chimique. JEM 2010 est conçu avec un espace de travail ergonomique et une accessibilité facile à la chambre et à ses composants auxiliaires. Cette conception simplificatrice du flux de travail permet un fonctionnement fluide et efficace du microscope, ce qui réduit également le risque d'endommagement des composants en raison d'erreurs manuelles. De plus, sa conception robuste convient à la stabilité et à la fiabilité à long terme. JEM-2010 dispose de systèmes de refroidissement innovants qui éliminent le besoin de réfrigération cryogénique, ainsi que d'un système de purge active de l'hydrogène contrôlé par ordinateur pour l'observation à long terme sans défaut. En conclusion, JEOL JEM 2010 est un puissant microscope électronique à balayage qui offre une variété de fonctionnalités et de capacités essentielles pour le travail des laboratoires de recherche. Avec sa large gamme de grossissements et ses nombreux systèmes de contrôle, il permet d'analyser des échantillons très détaillés avec précision et facilité.