Occasion JEOL JEM 2010 #9375954 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour une gamme d'applications incluant la topographie de surface, la cartographie élémentaire et l'analyse structurale. JEOL JEM-2010 combine un contrôle sans précédent du faisceau électronique incident, des performances d'imagerie et de la simplicité opérationnelle pour des applications d'imagerie avancées. La puissante optique électronique de JEM 2010 permet un contrôle précis de la forme du faisceau d'électrons incidents, permettant une résolution de taches supérieure et des performances d'imagerie améliorées. Multi-true Focus Bolometers permettent un contrôle précis des angles de déflexion et de la taille du faisceau et offrent une excellente résolution à partir d'un seul endroit. La conception optimisée de la colonne utilise également une technologie d'imagerie avancée, avec une optique angulaire de haute précision, un correcteur d'aberration triple et un détecteur d'électrons secondaire pour une résolution d'imagerie et un contraste exceptionnels. JEM-2010 intègre une gamme d'opérations pratiques et conviviales, y compris une interface graphique intuitive et des fonctions d'auto-étalonnage. Le système d'auto-calibration simplifie la configuration du SEM et permet un contrôle précis des paramètres d'imagerie tels que l'accélération de la tension et du courant du faisceau. De plus, le système innovant d'alignement automatique garantit une imagerie toujours précise. Les contrôles environnementaux de JEOL JEM 2010 sont conçus pour assurer la stabilité et la cohérence de l'image à long terme. Le mécanisme de protection de la colonne utilise une régulation minutieuse de la pression et de la température de la colonne, tandis que le régulateur de température ajuste la température de la colonne au besoin. En outre, la mécanique d'étage innovante et le système d'entraînement à saturation d'air offrent un haut niveau de précision de balayage, offrant une stabilité supérieure et une protection des échantillons. JEOL JEM-2010 est un microscope électronique à balayage vraiment avancé, répondant aux besoins du laboratoire le plus exigeant. La combinaison d'une optique électronique de précision et de contrôles automatisés puissants permet des performances d'imagerie supérieures, ainsi qu'un fonctionnement simplifié pour une efficacité maximale. La résolution d'image supérieure, le fonctionnement convivial et l'excellent contrôle environnemental du MJE 2010 en font le microscope idéal pour une gamme d'applications de recherche.