Occasion JEOL JEM 2010 #9384836 à vendre en France

JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM). Il s'agit d'un microscope électronique à balayage à pression variable capable d'imiter des échantillons dans une large gamme de grossissements, de 10x à 2000x. La capacité d'imagerie à faible vide permet l'imagerie à haute résolution de matériaux échantillons non conducteurs sans avoir besoin de revêtement métallique ou de coloration. Le faisceau d'électrons à balayage peut également être utilisé à des fins analytiques. JEOL JEM-2010 est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire automatique, de deux détecteurs d'électrons rétrodiffusés, d'une spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et d'une installation au microscope pour l'imagerie à double faisceau. JEM 2010 est conçu pour l'imagerie et l'analyse. Il est équipé d'un monochromateur haute résolution avec une résolution de 3,4nm à 30kV, fournissant une image haute résolution très détaillée. Il existe également un équipement d'auto-étalonnage pour ajuster la position et la tension de l'étage afin d'optimiser l'imagerie et l'analyse. Les capacités d'imagerie et d'analyse haut de gamme de JEM-2010 le rendent idéal pour de nombreuses applications dans la recherche matérielle. Il est parfait pour la caractérisation des semi-conducteurs et l'analyse des défaillances, ainsi que pour l'imagerie médico-légale. Il a également été utilisé avec succès dans le domaine de la recherche à l'échelle nanométrique. JEOL JEM 2010 utilise des lentilles optiques à base d'électrons à plasma pour permettre l'imagerie haute résolution dans une large gamme de grossissements. Le microscope utilise également une gamme d'optiques pour obtenir des informations détaillées sur les échantillons. Il s'agit notamment d'une lentille à condenseur électromagnétique, d'une lentille à objectif et d'une lentille à champ central objectif. La tension d'accélération peut être changée pour l'imagerie, de 5kV à 30kV, et pour l'analyse, de 0.1kV à 30kV. JEOL JEM-2010 dispose d'un système automatisé unique qui permet une configuration rapide et facile. L'unité automatique automatisée d'alignement du faisceau aligne rapidement et avec précision le faisceau de sorte que la résolution souhaitée soit obtenue même pour des échantillons difficiles. La machine de coloration automatisée facilite également la préparation des échantillons pour l'imagerie. JEM 2010 est un excellent microscope électronique à balayage haute résolution, offrant d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse. Il est parfait pour une large gamme de tâches d'analyse d'échantillons. Les systèmes automatisés permettent une installation et une utilisation plus rapides et plus faciles, et l'imagerie sous vide le rend idéal pour la préparation des échantillons.