Occasion JEOL JEM 2010 #9394893 à vendre en France
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ID: 9394893
Transmission Electron Microscope (TEM)
Thermal cathode (Tungsten, Denka LaB6)
Cold trap
Camera side ports length: 15-300 cm
(3) Stage condenser lenses
Beam tilt: 2°
HC Aperture
Magnification: 1000x-800000x
Does not include OLYMPUS Camera.
JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise un faisceau d'électrons haute tension afin d'agrandir et d'analyser la surface de l'échantillon avec des détails extrêmement élevés. Ce SEM est capable de fournir des images de très haute résolution allant jusqu'à 0,09 nm avec une plage de grossissement de 400-500 000 X. JEOL JEM-2010 est connu pour sa grande sensibilité et ses faibles coûts de fonctionnement, ce qui en fait un choix idéal pour une variété d'applications tant dans le domaine de la recherche que dans le domaine médical. Le microscope lui-même est composé de plusieurs composants. Au cœur du système se trouvent la source d'électrons, l'ensemble du canon et l'étape du spécimen. La source d'électrons déclenche un faisceau d'électrons finement focalisé à travers un objectif spécialement conçu. Ces électrons sont ensuite dirigés vers l'étage de prélèvement, où ils interagissent avec l'échantillon pour créer des images amplifiées de la surface de l'échantillon. JEM 2010 a une variété de fonctions qui lui permettent d'être utilisé pour une variété d'applications. Il est capable de produire des images avec un contraste élevé et une très bonne résolution. Le microscope peut également être utilisé pour l'alignement et la mesure de très petites caractéristiques telles que des zones métasables, des barrières d'arséniure de gallium et des films très minces. En outre, il a la capacité de capturer des images résolues dans le temps, qui sont utiles pour étudier la dynamique des phénomènes de surface. JEM-2010 dispose également d'un système EDS intégré, avec des détecteurs de rayons X montés sur l'axe. Cela permet d'analyser la composition de l'échantillon au fur et à mesure que le faisceau d'électrons la parcourt, ce qui peut fournir des informations précieuses pour la science médico-légale ou la recherche médicale. Dans l'ensemble, JEOL JEM 2010 est un microscope électronique à balayage exceptionnellement puissant qui offre un large éventail de fonctionnalités et de capacités. Il est très polyvalent et compatible avec une variété d'accessoires et d'échantillons, ce qui en fait un excellent choix pour une gamme d'applications variées.
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