Occasion JEOL JEM 2010F #293595837 à vendre en France
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ID: 293595837
Style Vintage: 2000
Transmission Electron Microscope (TEM)
Ultra High Resolution (UHR) / High Resolution (HR) / High specimen Tilt (HT) / Cryo Polepice (CR) / High Contrast (HC)
Polepice: URP / HRP / HTP / CRP / HCP
Point: 0.19 nm / 0.23 nm / 0.25 nm / 0.27 nm / 0.31 nm
Lattice: 0.1 nm / 0.1 nm / 0.1 nm / 0.14 nm / 0.14 nm
Focal length: 1.9 mm / 2.3 mm / 2.7 mm / 2.8 mm / 3.9 mm
Spherical coefficient: 0.5 mm / 1.0 mm / 1.4 mm / 2.0 mm / 3.3 mm
Chromatic coefficient: 1.1 mm / 1.4 mm / 1.8 mm / 2.1 mm / 3.0 mm
Focal step: 1.0 nm / 1.4 nm / 1.8 nm / 2.0 nm / 5.2 nm
Solid angle (30 mm²): 0.13 sr / 0.13 sr / 0.13 sr / - / 0.09 sr
Solid angle (50 mm²): 0.24 sr / 0.28 sr / 0.23 sr / - / 0.09 sr
Take-off angle (30 mm²): 25° / 25° / 25° / - / 20°
Take-off angle (50 mm²): 22.3° / 24.1° / 25° / - / 20°
MAG mode: x2,000 to 1,500,000 x 1,500 to 1,200,000 x1,200 to 1,000,000 x1,000 to 800,000
Low MAG: x50 to 6,000 x 50 to 2,000
SA MAG: x8,000 to 800,000 x6,000 to 600,000 x 5,000 to 600,000 x 5,000 to 400,000
SA diffraction: 80 to 2,000 mm, 100 to 2,500 mm, 150 to 3,000 mm
HD: 4 to 80 m
HR: 333 mm
Minimum step size: 50 V
Specimen tilting holder
High tilt specimen retainer
STEM5 Bright-field lattice: 0.2 nm
Electron source:
Schottky emitter: ZrO / W(100)
Brightness: ≧4x10^-8 A / cm² / sr
Pressure: 1x10^-8 Pa
Probe: 0.5 nA for 1 nm
Power Stability:
AC Voltage: ≦1x10^-6 / min
OL Current: ≦1x 10^-6 / min
Modes:
TEM: 2 to 5 nm, ７ to 30 nm
EDS: 4 to 20 nm
NBD: 0.5 to 2.4 nm
CBD: 1.0 to 2.4 nm
Parameters:
Convergence angle: 1.5 to 20 mrad
Acceptance angle: ±10°
Specimen shift:
X, Y-Axis: 2 mm, 2 mm, 2 mm, 2 mm, 2 mm
Z-Axis: ±0.1 mm, ±0.2 mm, ±0.2 mm
Specimen tilt:
X / Y-Axis: ±25 / ±25°, ±35 / ±30°, ±42 / ±30°, ±15 / ±10°, ±38 / ±30°
X-Axis: ±25°, ±80°, ±80°, ±80°, ±80°
Power supply: 160 kV, 200 kV
2000 vintage.
JEOL JEM 2010F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications analytiques et scientifiques des matériaux. Il est équipé d'une source d'électrons à cathode froide (émission de champ), avec une excellente stabilité et luminosité de la source. La source génère un faisceau d'électrons de faible diamètre à haute résolution, avec un mode basse tension pour étudier les échantillons sensibles. L'étage d'imagerie à faible énergie permet d'obtenir des images à fort grossissement sans charge significative de l'échantillon. Les configurations en colonne comprennent une option d'imagerie filtrée en énergie, un détecteur EDX coaxial et un canon Schottky dédié. L'instrument dispose également d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés à filament de tungstène qui fournit un fort grossissement et une imagerie de contraste. Le microscope électronique à balayage JEOL JEM-2010F est alimenté par un étage x-y motorisé intégré à entraînement linéaire et un porte-échantillon automatique à 10 positions. L'étage x-y motorisé intégré offre le mouvement de haute précision pour repositionner facilement l'échantillon dans le champ de vision du microscope électronique. Il fournit une imagerie à haut rendement en avançant automatiquement la position suivante de l'échantillon après un contrôle d'étalonnage externe. La monture dispose également d'une interface logicielle pour écrire automatiquement les données de paramètres aux fichiers directement à partir du microscope électronique. En outre, JEM 2010F est également équipé d'un contrôleur X-Y numérique pour les applications d'imagerie en direct. Le contrôleur X-Y numérique utilise la technologie d'imagerie numérique la plus récente, permettant un système de caméra intégré qui est connecté directement au module d'imagerie numérique. Grâce à la technologie numérique de pointe, le système est en mesure de fournir une haute résolution et des temps de cycle rapides. Enfin, JEM-2010F dispose d'un ensemble complet d'analyse d'image, qui comprend à la fois des fonctions entièrement automatisées et des réglages manuels. Les algorithmes avancés de traitement d'image, tels que la détection de bord, le suivi des particules et la reconnaissance de forme, sont inclus. L'interface permet également l'imagerie multimodale, ainsi qu'un large éventail d'outils d'analyse, offrant à l'utilisateur un meilleur contrôle sur les résultats.
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