Occasion JEOL JEM 2010F #293621943 à vendre en France

JEOL JEM 2010F est un microscope électronique à balayage conçu pour des applications à haute résolution sur une large gamme d'échantillons. Il présente une excellente sensibilité, stabilité et un grossissement d'observation jusqu'à un million de fois selon le spécimen. La source d'électrons d'émission de champ assure une image de haute qualité avec un faible dommage induit par le faisceau à l'échantillon. JEOL JEM-2010F est conçu avec une chambre basse dépression qui élimine le besoin de refroidissement à l'eau et réduit l'entretien à des niveaux minimums. Ce microscope électronique à balayage présente un niveau de stabilité exceptionnel, avec un rapport signal sur bruit de 200:1, assurant des images crues et des mesures sans distorsion. En outre, JEM 2010F a un mode d'observation très flexible, avec la capacité de détecter les électrons rétrodiffusés, les électrons secondaires, les électrons inélastiques, les photoélectrons et les électrons Auger. Combiné à un large choix de détecteurs, l'équipement est capable d'analyser divers types d'échantillons. JEM-2010F est également livré avec une gamme de technologies de pointe et d'accessoires pour améliorer ses capacités d'imagerie. Il s'agit notamment d'un système à double faisceau qui permet l'imagerie simultanée de deux manières différentes, par exemple SEM/TEM, ou STEM/EDX. L'option AAS (Advanced Analytical Unit) permet la collecte automatisée de données analytiques. Une autre caractéristique utile est la machine conviviale de manipulation des échantillons, qui permet un échange facile des échantillons et des porte-échantillons pendant l'observation. Dans l'ensemble, JEOL JEM 2010F est un microscope électronique à balayage incroyablement puissant et polyvalent, permettant d'étudier en détail une variété d'échantillons. Ses technologies de pointe en font l'outil idéal pour un large éventail de recherches et d'analyses.