Occasion JEOL JEM 2010F #293684029 à vendre en France
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JEOL JEM 2010F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui permet aux utilisateurs de visualiser la surface des échantillons avec une résolution qui approche du niveau atomique. Le dispositif offre une excellente qualité d'image avec la clarté, la résolution latérale, et la profondeur de vue jusqu'à un agrandissement de 300 000. Le dispositif offre également une chambre environnementale intégrée qui permet l'étude in situ de procédés tels que l'oxydation, la déshydratation, le revêtement et le dépôt de couches minces. JEOL JEM-2010F utilise une source d'électrons pour générer un faisceau d'électrons. Le faisceau est accéléré et focalisé sur une lentille de champ magnétique qui balaie la surface de l'échantillon. Un détecteur convertit les électrons diffusés de l'échantillon en une image, qui est ensuite affichée sur un moniteur ou envoyée à une imprimante. Le système de vide est le cœur du dispositif et est chargé d'atteindre les conditions nécessaires au fonctionnement du SEM. Ce système crée un environnement à vide élevé à l'intérieur de la chambre SEM avec une pression inférieure à 10-6 torr. Le système à vide assure également que les électrons n'interagissent pas avec le gaz de fond, ce qui donne une image plus détaillée. Le SEM est équipé d'un ordinateur puissant pour acquérir, stocker et manipuler les données générées par le faisceau d'électrons. Cela permet aux utilisateurs d'accéder facilement aux données, de les analyser et de produire des graphiques et des animations complexes. Le SEM comprend une variété de modes d'imagerie, y compris des modes haute résolution et à pression variable, adaptés à une variété d'échantillons et d'applications. Une gamme de logiciels est disponible pour analyser les images et automatiser les processus afin d'optimiser les résultats. JEM 2010F est un microscope électronique à balayage très polyvalent et convivial. Il offre une excellente qualité d'image et une gamme de fonctionnalités pour un large éventail d'exigences d'application.
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