Occasion JEOL JEM 2010F #293820051 à vendre en France

JEOL JEM 2010F est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM) doté d'une source d'électrons à haut débit, de capacités d'imagerie avancées et d'une variété de modes d'utilisation. Grâce à sa technologie de lentille raffinée, JEOL JEM-2010F a une résolution pouvant atteindre 2 nanomètres et un grossissement pouvant atteindre 250 000. Le MJE 2010F est un instrument à pression variable, permettant un fonctionnement sous vide faible à moyen. Cela permet d'examiner des échantillons sans avoir besoin d'enduire de matériaux conducteurs, en préservant un matériau délicat. Il dispose d'une commutation rapide et facile entre les modes haute et basse dépression. Une source de rayons X à anode tournante améliore le signal, ce qui permet d'augmenter les détails et la profondeur de l'imagerie de champ. Un étage à échantillon chanfreiné sous vide fournit une plate-forme stable d'analyse des échantillons et un bras manipulateur assure un positionnement précis de l'échantillon pour une imagerie optimale. Le détecteur d'électrons secondaire est monté sur l'échantillon et peut être utilisé pour mesurer la topographie de surface et pour créer des images en relief 3D. JEM-2010F dispose d'un système d'imagerie double, permettant le fonctionnement simultané des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés. Ceci fournit à l'utilisateur des informations sur la composition atomique et la concentration des éléments dans l'échantillon. La spectroscopie par rayons X (EDS) dispersive d'énergie peut être utilisée pour cartographier la composition élémentaire de l'échantillon avec une précision nanométrique. Une source d'ions complète en chambre assure le nettoyage des échantillons et le profilage de profondeur. La suite de capacités d'imagerie et d'analyse, ainsi que son fonctionnement convivial, font de JEOL JEM 2010F un puissant microscope électronique à balayage. Il dispose d'un ensemble complet d'outils qui permettent le développement d'applications avancées d'imagerie et d'analyse. Ce microscope est idéal pour la microanalyse, l'imagerie spectrale, et plus encore.