Occasion JEOL JEM 2010F #9184351 à vendre en France

JEOL JEM 2010F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour un large éventail de domaines d'application. Ce SEM de pointe combine un champ de vision de 20mm2 avec une résolution inférieure à 0,4nm et une pression de chambre de 10-9 Pa. Cela le rend idéal pour l'imagerie haute résolution des matériaux à l'échelle du nanomètre. La conception robuste du SEM permet au système de gérer l'imagerie basse et haute tension, ce qui le rend idéal pour une large gamme d'applications. JEOL JEM-2010F peut fonctionner dans une large gamme de tensions allant de 0 à 30 kV et est également capable de fonctionner en mode à pression variable pour les échantillons non conducteurs. Ce SEM comporte un étage d'inclinaison permettant l'observation des échantillons à n'importe quel angle. JEM 2010F permet à la fois la détection d'électrons standard et l'imagerie électronique rétrodiffusée. Avec ses 5 détecteurs STEM inclinés, le microscope permet l'imagerie simultanée de divers matériaux et caractéristiques. De plus, son système secondaire de détection d'électrons permet une cartographie précise des compositions composites. Le fonctionnement de JEM-2010F est simplifié par une interface utilisateur intuitive et de puissantes capacités d'automatisation. Cela permet une imagerie rapide et efficace avec une intervention minimale de l'utilisateur. En outre, JEOL JEM 2010F est intégré avec une suite d'outils de post-traitement et d'analyse, fournissant le flux de travail complet de l'imagerie à l'analyse. Cela comprend la capacité de mesurer une grande variété de propriétés telles que la topologie de surface, la composition, la granulométrie, l'épaisseur de la couche et la concentration de dopage. JEOL JEM-2010F est un choix idéal pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'échantillons complexes. Son large éventail de fonctionnalités, associé à son design robuste et à sa puissante interface utilisateur, fait de JEM 2010F une solution idéale pour une variété d'applications.