Occasion JEOL JEM 2010F #9235270 à vendre en France

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ID: 9235270
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL JEM 2010F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour répondre aux exigences d'imagerie et d'analyse avancées dans une variété d'applications. L'équipement, avec son optique avancée, est conçu pour offrir les images de plus haute résolution avec une profondeur de mise au point supérieure, même à basse tension d'accélération. JEOL JEM-2010F est équipé d'une variété de technologies pour maximiser l'efficacité de l'imagerie. La colonne utilise un système optique électronique de déviation de 20 mm pour réduire la distorsion de charge unitaire et de balayage tout en fournissant une résolution, un contraste et une clarté d'image inégalés. En outre, les commandes FEG automatisées, un circuit unique de détection/correction de signal, et la capacité d'augmenter la dose du faisceau permet une imagerie optimisée des échantillons même les plus difficiles. Le MJE 2010F intègre également des composants matériels et logiciels de qualité supérieure pour répondre à un éventail de capacités analytiques, de l'EDXRF à l'EBSD/EPMA. La machine EDXRF intégrée effectue une analyse rapide des rayons X tandis que l'outil EBSD/EPMA intégré permet de caractériser une variété de matériaux inorganiques et organiques, y compris des semi-conducteurs et des nano-matériaux. En ce qui concerne la convivialité, la fonction Easy Auto-Focus (EAF) permet un fonctionnement simple et sans effort du microscope. Le mode EAF est idéal pour travailler avec des échantillons aux caractéristiques de surface inégales. Le contrôleur de stabilité de l'actif s'assure également que le spécimen est maintenu sous observation constante et permet le fonctionnement fiable de l'instrument sur de longues périodes. Avec sa combinaison de technologie de pointe et de fonctionnalités conviviales, le microscope électronique à balayage JEM-2010F est l'instrument idéal pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. En fournissant les plus hauts niveaux de qualité d'image et de performance analytique, ce modèle est conçu pour dépasser les exigences d'imagerie les plus exigeantes.
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