Occasion JEOL JEM 2010UHR #9240146 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 2010UHR (SEM) est un puissant instrument d'imagerie haute résolution conçu pour diverses analyses d'échantillons. JEM 2010UHR est un instrument UHR SEM avec une tension d'accélération pouvant atteindre 200 kV et des performances d'imagerie à haut contraste et à haut débit. Le microscope dispose d'une grande chambre de spécimen qui peut accueillir une gamme d'échantillons jusqu'à 250 mm de diamètre. Il intègre également un détecteur dans la lentille, offrant une excellente qualité d'image à basse et haute pression. Cela permet d'observer des structures nano-échelle complètes avec des matériaux peu conducteurs et isolants. Le SEM offre également une combinaison unique de techniques, dont l'exploitation environnementale et analytique, le contraste de phase, le sectionnement, l'acquisition de séries inclinées et la tomographie pour une reconstruction tridimensionnelle détaillée. Ces techniques peuvent être utilisées pour examiner divers matériaux, notamment des métaux, des isolants, des polymères et des échantillons biologiques. L'instrument intègre plusieurs technologies permettant des capacités d'imagerie avancées, telles que l'imagerie par filtre d'énergie en colonne (IEF), la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD), la spectrométrie de masse d'ions secondaires en temps de vol (TOF-SIMS), la spectroscopie à rayons X dispersive en longueur d'onde (WDS), la spectroscopie de perte d'énergie électronique (spectrophérique). JEOL JEM 2010UHR dispose d'une grande bride de chambre qui permet l'échange d'une grande variété de porte-échantillons et de porte-spécimens. Il est équipé d'un étage automatisé, qui permet des opérations automatiques telles que le balayage topographique, le balayage des lignes et le comptage des particules. En outre, μFly™ basculement automatisé est inclus, permettant le changement automatique des angles d'inclinaison sans casser le vide. L'instrument est également équipé d'une étape de préparation d'échantillons amovibles (RSP) qui donne accès à une gamme de composants et d'accessoires de préparation d'échantillons. Cela permet un revêtement d'échantillons, comme avec de l'or, du carbone ou du platine, pour améliorer la qualité des images de transmission d'électrons. En outre, JEM 2010UHR propose également une large gamme d'accessoires d'imagerie in situ tels que des cryo-refroidisseurs, différentes chambres pour effectuer le refroidissement et le chauffage atmosphérique, des étages haute pression, des chambres de corrosion et des levitateurs électromagnétiques. Dans l'ensemble, JEOL JEM 2010UHR est un monstre d'imagerie avec des capacités puissantes qui peuvent être utilisées pour un large éventail d'applications, de l'imagerie simple à l'analyse complexe. Il offre une gamme complète de techniques d'imagerie et d'analyse pour l'analyse complète des échantillons dans divers matériaux.