Occasion JEOL JEM 2011 #293668339 à vendre en France

JEOL JEM 2011 est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de produire des images à haute résolution de caractéristiques topographiques complexes. Le microscope utilise un faisceau d'émission en champ froid - un canon à électrons qui produit un faisceau d'électrons qui est ensuite focalisé par une lentille de condenseur sur l'échantillon. Ceci crée un motif raster sur la surface de l'échantillon, qui est ensuite balayé par une lentille d'imagerie, formant une image agrandie de la surface de l'échantillon. Cette image est ensuite lue par un détecteur, qui crée une image numérique de l'échantillon. JEM 2011 un SEM fiable et polyvalent qui a une variété d'applications, telles que la science des matériaux, la criminalistique et la recherche sur les semi-conducteurs. Il dispose d'une chambre de travail, qui est une chambre d'étanchéité sous vide et dispose d'un porte-échantillon pour sécuriser l'échantillon et d'une chambre d'observation où des images sont générées. Il peut analyser des échantillons de quelques micromètres à plusieurs centaines de nanomètres. Le microscope est également capable de recueillir des données d'analyse élémentaire et chimique à l'aide de la spectroscopie à rayons X dispersifs (EDX) et de la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD). JEOL JEM 2011 est équipé d'un certain nombre de fonctionnalités avancées pour maximiser la commodité et la précision de l'utilisateur. Ceux-ci comprennent une fonction de démarrage automatique qui reconnaît le type d'échantillon et ajuste automatiquement les paramètres du microscope aux paramètres optimaux. Il est également livré avec un système de contrôle automatisé intégré qui permet de scanner facilement et rapidement l'échantillon. Une gamme de fonctions d'image et de mesure, telles que le contraste d'intensité, la microscopie à force atomique (AFM) et le traitement numérique des images, sont disponibles pour permettre aux chercheurs d'analyser et d'étudier avec précision les échantillons. JEM 2011 est un outil puissant dans l'analyse et la visualisation des matériaux. Il est capable de fournir des images vives et détaillées avec un contraste et une résolution élevés. Il peut être utilisé pour mesurer les propriétés physiques et chimiques d'un échantillon, ainsi que sa topographie et ses structures. Le microscope permet également une analyse rapide des échantillons grâce à son balayage rapide et à son processus automatisé. Toutes ces caractéristiques font de JEOL JEM 2011 un instrument idéal pour une grande variété de travaux de laboratoire.