Occasion JEOL JEM 2011 #293794446 à vendre en France

JEOL JEM 2011 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surfaces de matériaux. Cet appareil a une haute performance la source d'électron de filament de LaB6, en y donnant la capacité de produire des images grossies de jusqu'à 1,000,000x. Il est équipé d'un système optique à large portée qui lui permet de focaliser différentes parties de l'échantillon dans des grossissements différents en même temps. Cela donne aux utilisateurs la souplesse nécessaire pour observer différentes parties de l'échantillon à des grossissements élevés ou faibles. JEM 2011 intègre une multitude de fonctionnalités pour garantir des performances élevées et l'adéquation à un large éventail d'applications. La conception du système est très modulaire, ce qui permet aux utilisateurs d'ajouter des fonctionnalités telles que l'imagerie numérique, la spectrométrie dispersive d'énergie (EDS) et le contraste d'interférences différentielles (DIC). Cette large gamme de fonctionnalités fait de JEOL JEM 2011 un outil d'imagerie analytique polyvalent et puissant. Le MJE 2011 utilise également un étage programmable automatisé pour contrôler avec précision les mouvements de l'échantillon à l'intérieur de la chambre d'imagerie. Cette étape automatisée permet de positionner l'échantillon avec précision dans différentes orientations et d'atteindre un grossissement maximal. De plus, le système SEM peut être équipé d'accessoires tels que des détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB) et des détecteurs d'électrons secondaires (SE) pour détecter et analyser efficacement les signaux provenant de l'échantillon. JEOL JEM 2011 dispose d'une interface conviviale pratique, permettant aux utilisateurs de contrôler facilement ses fonctions et ses paramètres. En outre, il est conçu pour être utilisé dans diverses conditions environnementales, ce qui lui permet d'être utilisé dans des domaines tels que les laboratoires, les usines industrielles et les installations de recherche. De plus, les composants et les parties du dispositif peuvent être remplacés ou mis à niveau en cas de besoin. En conclusion, JEM 2011 est un appareil extrêmement polyvalent et puissant qui peut être configuré pour répondre aux besoins de nombreuses applications différentes. Il dispose d'un large éventail de caractéristiques et de capacités permettant l'imagerie haute résolution et l'analyse des surfaces de matériaux. Son interface conviviale et sa conception modulaire le rendent facile à utiliser et à entretenir. JEOL JEM 2011 est un outil idéal pour toute recherche ou application industrielle nécessitant une imagerie et une analyse de haute qualité.