Occasion JEOL JEM 2100 LaB6 #293827498 à vendre en France

JEOL JEM 2100 LaB6 est un microscope électronique à balayage polyvalent et puissant (SEM) qui offre une large gamme de fonctionnalités et de capacités de pointe adaptées à une variété d'applications industrielles et de recherche. Équipé d'une source d'électrons en hexaborure de lanthane (LaB6), cet instrument offre une imagerie haute résolution et des performances analytiques, ce qui en fait un outil indispensable pour la nanotechnologie, la science des matériaux, la biologie et d'autres domaines nécessitant une imagerie et une analyse précises à l'échelle micro et nanométrique. La cathode LaB6 de JEOL JEM 2100 produit un faisceau d'électrons de haute luminosité qui permet au microscope d'obtenir une résolution et des capacités d'imagerie exceptionnelles. Avec une tension d'accélération maximale de 200 kV, ce SEM est capable de résoudre des caractéristiques jusqu'à des échelles de sous-nanomètres, permettant aux chercheurs d'étudier des détails structuraux fins et des topographies de surface avec une clarté inégalée. La source LaB6 fournit également des émissions d'électrons stables et fiables, assurant des performances constantes lors de séances d'imagerie prolongées et minimisant les temps d'arrêt pour la maintenance et le recalibrage. JEOL JEM 2100 est équipé d'une gamme complète de capacités d'imagerie et d'analyse pour soutenir un large éventail d'applications de recherche. Le microscope dispose de détecteurs avancés, y compris des détecteurs d'électrons secondaires Everhart-Thornley et des détecteurs d'électrons rétrodiffusés à l'état solide, qui permettent une imagerie haute résolution de la morphologie de surface et l'analyse de la composition élémentaire. De plus, l'instrument est équipé d'un système de spectroscopie des rayons X (EDS) dispersive d'énergie pour la cartographie élémentaire et la quantification, permettant aux chercheurs d'effectuer des analyses chimiques détaillées d'échantillons à haute résolution spatiale. En plus de ses capacités d'imagerie et d'analyse, JEOL JEM 2100 propose une gamme de modes de fonctionnement avancés et de techniques d'imagerie pour répondre aux divers besoins des chercheurs et des utilisateurs industriels. Le microscope supporte une variété de modes d'imagerie, y compris le vide élevé, le vide bas et les modes SEM environnementaux, permettant la visualisation d'échantillons dans différentes conditions environnementales. L'instrument comprend également des techniques d'imagerie avancées telles que la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), la diffraction électronique et les capacités d'expérimentation in situ, fournissant aux utilisateurs une trousse d'outils complète pour caractériser les matériaux et étudier les processus dynamiques à l'échelle nanométrique. JEOL JEM 2100 est conçu avec des interfaces conviviales et des logiciels intuitifs, ce qui facilite le fonctionnement et le contrôle du microscope pour les tâches courantes d'imagerie et d'analyse. L'instrument est équipé de fonctions d'automatisation sophistiquées, telles que l'auto-focus, l'auto-stigmatisation et l'auto-alignement, qui simplifient les processus de flux de travail et optimisent les performances d'imagerie. Le microscope permet également l'acquisition et l'analyse de données au moyen de plates-formes logicielles intégrées, permettant aux utilisateurs de traiter et de visualiser les données d'imagerie en temps réel et de produire des rapports détaillés pour la recherche et la publication. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage JEM 2100 LaB6 représente un outil de pointe pour l'imagerie haute résolution et la caractérisation analytique dans les domaines de la nanotechnologie, de la science des matériaux et de la recherche biologique. Avec sa source d'électrons de pointe, ses détecteurs d'imagerie, ses capacités analytiques et son fonctionnement convivial, cet instrument offre aux chercheurs et aux utilisateurs industriels une plate-forme polyvalente pour étudier les matériaux et les structures à l'échelle micro et nanométrique avec une clarté et une précision exceptionnelles.