Occasion JEOL JEM 2100 #293822851 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 2100 (SEM) est un instrument d'analyse de premier plan au monde avec des performances inégalées permettant aux utilisateurs de visualiser des particules de taille micrométrique et nanométrique jamais vues auparavant. JEM 2100 est capable d'atteindre des résolutions jusqu'à 0,2 nm à des grossissements plus élevés, et peut être utilisé pour générer des ensembles de données 3D de spécimens avec des résolutions à l'échelle nanométrique. Son grossissement très réglable permet aux utilisateurs d'étudier avec précision les détails qu'ils pourraient ne pas être en mesure d'observer autrement. JEOL JEM 2100 utilise un nouveau canon Schottky Emission qui permet d'atteindre une résolution beaucoup plus élevée que les canons classiques à émission thermionique. Cela a permis à JEM 2100 d'atteindre une résolution sans précédent de 0,2 nm à des grossissements plus élevés, ce qui a permis d'élargir considérablement les données structurelles et l'imagerie des nanomatériaux. De plus, JEOL JEM 2100 est équipé d'un correcteur Cs qui améliore la résolution d'imagerie en corrigeant les effets d'aberration sphérique et chromatique. Les détecteurs avancés JEM 2100 permettent d'améliorer le rapport signal/bruit. Le détecteur d'armes à feu, le détecteur EDAX EDX et les détecteurs d'imagerie permettent de détecter facilement les données élémentaires et structurelles des échantillons. Cela permet aux utilisateurs de générer rapidement des ensembles de données et des images sur une variété de matériaux. Le faisceau d'électrons peut également être modifié pour obtenir des effets différents. Une modification de la lentille du condenseur permet à l'utilisateur de focaliser le faisceau d'électrons pour obtenir une forme laplacienne de premier ordre. Cet effet peut être utilisé pour créer un ensemble de données 3D de détails fins d'un échantillon fournissant une vue tridimensionnelle. JEOL JEM 2100 dispose également d'étapes automatisées qui permettent des mouvements précis de l'échantillon lors de l'imagerie, rendant le processus de collecte de données plus rapide et plus efficace. L'étape automatisée permet aux utilisateurs de définir la zone qu'ils veulent représenter ainsi que le taux de numérisation pour la collecte de données. L'intégration complète de l'automatisation et des nouvelles fonctionnalités de JEM 2100 en fait un instrument idéal pour la recherche et le contrôle de la qualité. Ses détecteurs avancés, ses hautes résolutions, ses étages automatisés et sa modification de la lentille du condenseur se réunissent pour former un STEM puissant. Cette polyvalence fait de JEOL JEM 2100 le choix idéal pour analyser les détails structuraux de différents matériaux.