Occasion JEOL JEM 2100 #9185479 à vendre en France
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Vendu
ID: 9185479
Analytical transmission electron microscope
Specimen anti-contamination trap
Point-to-point resolution: 0.25 nm (guaranteed by JEOL)
Observed Au (002) 0.2039nm, Si (022) 0.19194nm
Stage tilt angle: +/-30 degrees for X axis
Controller: Double tilt power supply
HXA Hard X-ray aperture
Retainer EM-21150 for low background EDX analysis
Free lens control
200kV
Modes:
TEM Microprobe
TEM Nanoprobe
STEM (Scanning transmission electron microscope)
OXFORD SDD Thin-window energy dispersive X-ray (EDS) detector
GATON Orius 1000 slow scan CCD camera
With 2k x 4k
Bright field (BF)
High-angle annular dark field (HAADF)
STEM Detectors: 35mm port
Objective pole piece
Capable of ±30° tilt
Cryo-sample holder: -183°C
Double-tilt: ±30° holder
Background (Be) EDS holders
Accelerating voltage:
Maximum accelerating voltage: 200 kV
Engineer alignments at 120kV, 200kV
Operator alignment at 80kV
Electron gun assembly:
LaB6
Spare wehnelt assembly
Spare DENKA filament – LKSH60SM3
Pole piece:
High tilt analytical pole piece (HRP20)
EM20720
Specimen holders take standard 3mm grid:
JEOL Single tilt
JEOL Tilting holder EM31630 +/-30 degrees for Y tilt axis
GATAN Cryoholder
Model: 636-J1622403N01HC
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday cup with heater
SATW Ultra-thin polymer window - window for detection of light elements
GATAN Double tilt holder (phosphor bronze):
Model: 646
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday cup
Double tilt power supply
TEM Mode:
Low mag: 50x - 6,000x
High mag: 2,000x - 1,500,000x
SA Mag: 8,000x - 800kx
Diffraction: 8cm - 200cm
MDS
Camera:
Orius SC1000 CCD camera: 4k x 2k
4008x2670 Pixels interline device
9um x 9um Pixel size
Binning 1x, 2x, 3x, 4x
Operating temperature = +10ºC
STEM Mode:
Mag & AMAG modes
Image resolution: 1.5 nm with HTP
Bright field STEM at 200 kV
Low mag: 100x to 15,000x
High mag: 20,000x to 2,000,000x
JEOL Bright field detector
JEOL High angle annular dark field (HAADF) detector
Rocking beam
Nano probe:
Alpha 1-5
Spot size 0.5nm-25nm
EDS:
Alpha 1-3
Spot size 0.5nm-25nm
CBED:
Alpha 1-9
Spot size 0.5nm-25nm
EDS Detector:
SDD 80 mm
Solid angle: 0.13sr
Resolution:
Mn Ka 127eV
F Ka 64eV
C Ka 56eV
Operating systems:
Windows XP for JEOL TEM PC
Windows XP for GATAN camera PC
Windows 7 for OXFORD EDX PC
KVMP Switch box for single wireless keyboard
Single wireless mouse control
Dual monitors
Missing part:
Gatan double tilt holder (be low background)
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday Cup
Double tilt power supply
Power:
240V/32A 50Hz main
All 240V PC run from JEOL transformer
TEM is 115V
Currently installed.
JEOL JEM 2100 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui a révolutionné le monde de la microscopie électronique. Il est doté d'un design compact et peu encombrant, qui maximise l'espace de travail en laboratoire. Cet instrument de pointe est capable de produire des images haute résolution idéales pour une analyse approfondie. Le microscope a une tension d'accélération maximale de 30 kV et une vitesse de courant de 2 nA, ce qui lui permet de prendre des images puissantes de ses échantillons. Il est également livré avec un logiciel convivial qui facilite le fonctionnement et la formation pratique pour les utilisateurs. Le JEM 2100 est doté d'un filament de tungstène, d'un objectif achromatique et d'un système de contrôle de canon de haute précision. Le filament de tungstène émet des électrons qui peuvent pénétrer dans l'échantillon et révéler des détails normalement non visibles aux microscopes lumineux. Ces électrons sont focalisés par l'objectif achromatique puis traversés par le système de commande du canon, qui superpose signaux et images. JEOL JEM 2100 offre une variété de modes de balayage pour répondre à un large éventail d'exigences. Les images d'électrons secondaires résolues en angle (ARSEI) peuvent être utilisées pour analyser de très petites caractéristiques et une topographie de surface sur des échantillons. De plus, la microscopie électronique à balayage et la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (SEM/EDS) peuvent être utilisées pour identifier les éléments sur les échantillons. Cet instrument de pointe peut même être utilisé dans des chaînes de production automatisées en milieu de travail pour des inspections de routine ou dans des laboratoires de recherche pour des analyses critiques. Le JEM 2100 dispose également d'un système d'imagerie à faible bruit, d'excellentes performances sous vide et d'un contrôle de positionnement de haute précision qui permet de centrer avec précision l'échantillon. JEOL JEM 2100 est le choix ultime pour ceux qui recherchent un microscope électronique à balayage avancé et fiable. De son interface conviviale à ses puissantes capacités d'imagerie et de collecte de données, cet instrument est parfait pour les laboratoires qui ont besoin du meilleur microscope électronique sur le marché.
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