Occasion JEOL JEM 2100 #9284631 à vendre en France

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ID: 9284631
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) CM Lens High resolution analytical pole piece High contrast objective aperture SIP Vacuum pump Computer Microscope Gas supply Manuals included Equipped with: ASID STEM System BF and DF STEM detectors GATAN 832 Orius SC1000 CCD Camera 11 Mpix GATAN 863 Tridiem post-column energy filter LaB6 Filament: Motorised OL aperture (Mechanical high contrast objective aperture) operating voltage: 120 kV and 200 kV.
JEOL JEM 2100 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe conçu pour donner aux chercheurs un outil puissant pour visualiser et analyser de minuscules objets de moins de 500 nm. Il est livré avec plusieurs fonctionnalités qui en font un choix idéal pour de nombreuses applications de recherche. JEM 2100 est équipé d'un détecteur cathodoluminescent de tungstène qui offre une résolution de contraste exceptionnelle pour les électrons à basse énergie. Cela permet aux chercheurs de déterminer avec précision la composition matérielle d'un objet. L'imagerie haute résolution peut être facilitée par le détecteur de points à haute sensibilité, permettant aux chercheurs d'examiner en profondeur de minuscules structures. JEOL JEM 2100 offre également des niveaux de vide élevés pour l'examen des échantillons. Alors que la plupart des microscopes électroniques classiques nécessitent la préparation d'échantillons tels que le revêtement chimique, JEM 2100 peut fournir d'excellents résultats sans qu'il soit nécessaire de préparer des échantillons. Il en résulte des gains de temps, des images de meilleure qualité et une plus grande précision des données obtenues. JEOL JEM 2100 offre une flexibilité exceptionnelle pour différentes expériences. Il est équipé d'une chambre environnementale pour l'analyse in situ d'échantillons dans des environnements extrêmes. Ceci est particulièrement utile si l'échantillon est sensible à la contamination ou à la température, car la chambre peut être utilisée pour contrôler les deux facteurs. Les capacités supplémentaires de spectroscopie des rayons X intégrées de JEM 2100 sont particulièrement avantageuses pour l'analyse élémentaire de la composition. Le spectromètre à rayons X peut générer des spectres d'un large éventail de matériaux, y compris des minéraux, des éléments et des composés. JEOL JEM 2100 fournit des capacités d'imagerie précises aux grossissements jusqu'à 500,000X. Cela le rend idéal pour capturer des images extrêmement détaillées d'objets minuscules, et ces images peuvent ensuite être utilisées pour une analyse plus poussée. Dans l'ensemble, JEM 2100 est un excellent outil d'imagerie par microscopie électronique à balayage. Il offre une résolution d'imagerie supérieure, combinée à une excellente gamme de caractéristiques pour effectuer des études détaillées de minuscules objets. Sa flexibilité, ses caractéristiques intégrées et sa facilité d'utilisation en font un choix idéal pour les chercheurs du monde entier.
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