Occasion JEOL JEM 2100A #9355536 à vendre en France
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ID: 9355536
Transmission Electron Microscope (TEM)
Lattice image resolution: 0.1 nm
STEM Image resolution: 0.2 nm
FEG Schottky gun (ZrO2 / W)
GATAN UltraScan 894 CCD
GATAN 788 DigiScan II Control box
Chiller with refrigerated circulation system
GATAN Tridiem 863 EELS Detector
MARUYAMA Rotary pump
GOINO Tilt angle: ±30°
GATAN 925 Single tilt holder
Operating system: Windows XP, 32 bit
JEOL UPS
CL Aperture:
200 µm
100 µm
40 µm
10 µm
OBJ Aperture:
120 µm
60 µm
20 µm
10 µm
SA Aperture:
120 µm
50 µm
20 µm
10 µm
JED-2300 EDS Detector Si (Li) (Currently non-functional).
JEOL JEM 2100A est un microscope électronique à balayage environnemental de pointe (ESEM) conçu pour diverses applications d'imagerie, d'analyse et de préparation d'échantillons. Avec une tension d'accélération réglable allant de 0.2kV à 30kV, un régulateur de vide à chambre automatisé et un équipement automatisé d'entrée de gaz, le microscope offre une large gamme de capacités d'imagerie et d'analyse. JEOL JEM 2100 A dispose d'un porte-spécimen respectueux de l'environnement, permettant au système d'appliquer une pression atmosphérique contrôlée dans la chambre de spécimen. Ceci est essentiel pour l'imagerie de spécimens humides, fragiles et sujets à la condensation tels que des cellules vivantes ou des organismes. L'unité d'optique électronique post-colonne sphérique et chromatique sans aberration produit des images de haute qualité, avec une haute résolution jusqu'à 5,4 nm sans lentilles supplémentaires. Le détecteur d'électrons EverHigh Sensitivity breveté et la technologie EverHigh Contrast Contrast Detail vous permettent de détecter les signaux les plus faibles et de visualiser les détails les plus fins dans les échantillons sensibles au faisceau. Le processeur d'image d'OA-EBO5 BSE/SE inclut plusieurs opérations d'analyse et de traitement d'image, telles que la réduction bruyante, l'amélioration contrastée, la détection de bord et la quantification. JEM 2100A peut également être utilisé pour les capacités d'analyse des rayons X dispersés en énergie (EDX). EDX permet l'analyse élémentaire du spécimen tout en conservant son intégrité. Le microscope peut même être utilisé pour la microscopie électronique à transmission (TEM), vous donnant le pouvoir d'observer les détails les plus fins de matériaux plus épais et d'observer des structures relativement grandes en haute résolution. JEM 2100 A est équipé d'une large gamme de fonctionnalités matérielles, telles qu'un étage automatisé, un porte-échantillon programmable, une machine d'imagerie numérique haute performance et un contrôleur puissant. Ce microscope polyvalent et fiable est compatible avec une large gamme d'appareils, y compris les étapes de préparation des échantillons, les systèmes de revêtement à vide et les cryosphères. JEOL JEM 2100A est conçu pour fournir des performances et une précision inégalées pour un large éventail d'applications en sciences des matériaux, nanotechnologies, biologie et recherche médicale. Avec sa résolution exceptionnellement élevée et ses capacités analytiques avancées, JEOL JEM 2100 A peut vous aider à atteindre des niveaux inégalés de productivité de la recherche.
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