Occasion JEOL JEM 2100F #293628159 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 2100F est un instrument polyvalent et performant pour examiner la topographie et le profil de composition détaillé de divers matériaux. En utilisant une série d'électrodes, JEM 2100F produit des électrons qui sont focalisés et accélérés avant qu'ils ne soient émis à partir d'un filament de tungstène. Ces électrons sont ensuite balayés à travers la surface de l'échantillon pour créer une image microscopique. Le 2100F fournit une imagerie haute résolution et de contraste élevé, avec une excellente netteté de bord et profondeur de champ. Le faisceau d'électrons émis est normalisé à 10-20 kV, ce qui permet un fonctionnement plus rapide et des résultats plus fiables. Le faisceau d'électrons a également un niveau de courant réglable qui permet une gamme d'applications. En termes d'analyse, JEOL JEM 2100F peut fournir la détection élémentaire, la cartographie de la composition et l'imagerie de contraste élémentaire. L'équipement dispose d'un détecteur à rayons X dispersifs dédié à l'énergie pour identifier la composition des différentes parties d'un échantillon. De plus, le 2100F dispose d'un système à pression variable qui permet de réduire la charge des échantillons lors de l'imagerie d'échantillons non conducteurs. Les caractéristiques d'acquisition d'images de l'unité comprennent l'angle variable, l'agrandissement variable et la focalisation variable pour une large gamme d'images d'échantillons. Un scanner XY intégré permet à l'utilisateur de sélectionner et de modifier la zone d'analyse et la résolution à partir d'un seul champ de vue. Le 2100F dispose également d'électrons secondaires interchangeables, d'électrons rétrodiffusés et de détecteurs fluorescents pour fournir un contraste d'image pour différentes analyses. En outre, la machine permet une analyse des échantillons dans la situation, avec un refroidissement automatique de l'eau et des options de polarisation électrique in situ disponibles. En outre, le 2100F peut être utilisé avec une variété de porte-échantillons automatisés et manuels pour réduire le temps d'examen et augmenter la précision. Dans l'ensemble, JEM 2100F est un microscope électronique à balayage (SEM) performant, polyvalent et fiable. Il offre une profondeur de champ impressionnante, une imagerie haute résolution et un faisceau d'électrons réglables, ce qui le rend adapté à une gamme d'applications.