Occasion JEOL JEM 2100F #9248479 à vendre en France

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JEOL JEM 2100F
Vendu
ID: 9248479
Field Emission Transmission Electron Microscope (FETEM) P/N / Description EM-21001FBU / Electron microscope basic unit EM-20145 / Field emission gun EM-20520 / Illumination astigmatism corrector unit EM-20500 / CM Lens unit EM-20023 / High resolution pole EM-20G80 / High contrast objective aperture EM-37134PCU / Operation unit EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit EM-20531OLACU / Imaging astigmatism correction unit EM-23080 / DP Rough pump unit EM-37115MON / Monitor EM-25400 / Digital hour meter EM-28022LP2 / Lift pole SF6 / Gas charge tool EM-48141D / Water chiller A11J103SD002-08 II / Voltage regulator for 2100F BU SP-2100F / Spare parts CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor - / Digital STEM package EM-24541SIOD / Scanning image observation device EM-27102IAU / Image acquisition unit EM-24560 / Dark field image observation device EM-20380 / Hard X-ray aperture EM-20590 / Electrode short switch EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T System IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system - / GATAN Holder and digiscan function - / GATAN 925 Double tilt holder - / GATAN 925 - / GATAN 788 DigiScan.
Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 2100F (SEM) est un instrument d'imagerie numérique à haute résolution capable de produire des images extrêmement détaillées de divers matériaux. En utilisant un faisceau d'électrons focalisés, il est capable d'agrandir jusqu'à un million de fois, permettant la résolution de très petites caractéristiques. JEM 2100F offre également une plus large gamme de capacités analytiques que d'autres microscopes électroniques, y compris l'analyse élémentaire, cristallographique et morphologique. JEOL JEM 2100F a des caractéristiques uniques qui fournissent une plateforme d'imagerie puissante pour une variété d'applications. Il dispose d'un équipement intégré d'imagerie numérique haute résolution qui peut générer des images rendues 3D, ainsi que des capacités de post-traitement pour améliorer le contraste. Il dispose également d'une chambre à pression variable pour l'imagerie d'échantillons dans différentes conditions, ainsi que d'une étape automatisée de préparation d'échantillons. Le MJE 2100F utilise un large éventail de technologies de colonne électronique, y compris l'émission de champ froid et les lentilles électrostatiques. Cela permet d'optimiser le système pour produire des images de meilleure qualité à différents grossissements, allant d'un demi-millionième de mètre à un millionième de mètre. JEOL JEM 2100F offre également un grand champ de vision, permettant un chargement efficace des échantillons et une imagerie plus rapide. JEM 2100F est également équipé d'un spectromètre à rayons X EDS intégré, qui permet une analyse élémentaire à une tension d'accélération allant jusqu'à 720 Kev. Cette capacité ebon couplée aux capacités d'imagerie avancées de l'unité permet de l'utiliser pour des applications sophistiquées de caractérisation des matériaux. Enfin, JEOL JEM 2100F est un SEM entièrement automatisé, ce qui signifie qu'il est capable de fonctionner sans surveillance pendant de longues périodes. Cela le rend idéal pour les laboratoires où un seul opérateur peut gérer une série d'expériences sans se soucier des performances de la machine.
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