Occasion JEOL JEM 2100F #9249571 à vendre en France

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ID: 9249571
Transmission Electron Microscope (TEM) Operated at 200 kV vacuum system for analysis Part number / Description EM 21001FBU / Electron microscope basic unit EM-20145 (ZFE20) / Field emission gun EM-20520 / Illumination astigmatism correct ex unit EM-20500 / CM Lens unit EM-20023 / High resolution pole piece EM 20080(HCOA) / High contrast objective aperture EM-37134PCU / Operation unit EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit EM205310LACU / Imaging astigmatism correction unit EM-23080 / DP Rough pump unit EM 37115MON / Main monitor EM-25400 / Digital hour meter EM 28022IP2 / Lift pole Essential accessories: SF6 / SF6 Gas charge tool (Local supply) EM-48141D / Water chiller, one unit type, water-to-air heat exchanger EM-28220 / UPS Power supporter (UPS-410) EM-30040(BS) / Beam stopper EX-37200SMU / Swing mouse unit DTM-961002 / Step down transformer for CWC A11J103SD002- / Voltage regulator for 2100F BU (PN: 781168643) SP-2100F / Spare parts kit CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor Battery / Car battery for EM-28220 UPS STEM / Digital STEM package EM-24541SIOD / Scanning image observation device EM-27102IAU / Image acquisition unit EM-24560 / Dark field image observation device EM-20380 / Hard X-ray aperture EM-20590 / Electrode short switch EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T system IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system GATAN / Holder and DigiScan function - / Model 788 DigiScan II - / GATAN Double tilt holder 925 Manuals.
JEOL JEM 2100F est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) à haute performance qui combine une technologie d'imagerie et d'analyse de pointe et une opération intuitive et conviviale. Le système dispose d'un large éventail d'applications, de l'imagerie de routine aux possibilités de la 3D et de la spectroscopie, fournissant des capacités d'imagerie et d'analyse inégalées. Le système est construit sur un système d'imagerie CCD, offrant une véritable imagerie haute résolution dans les trois techniques ; les électrons secondaires classiques, les électrons rétrodiffusés et la détection dans les lentilles. Avec ses capteurs CCD haute performance et haute résolution, JEM 2100F est capable de produire des images et des données riches en détails à des résolutions de 1nm et au-delà. Les détecteurs avancés, y compris un détecteur à rayons X dispersant l'énergie et un détecteur d'énergie totale, fournissent des données analytiques de haute qualité et donnent des résultats précis en matière d'analyse élémentaire et de profilage chimique. JEOL JEM 2100F est également équipé d'un étage d'échantillonnage multi-axes, permettant à l'utilisateur de facilement manipuler et déplacer l'échantillon pour différents angles et perspectives, ainsi que d'images de zones plus grandes. De plus, l'appareil photo numérique intégré offre une visualisation et une inspection pratiques des échantillons. Les caractéristiques avancées, telles que le micro-manipulateur à double contraste et les plaques de chauffage et de refroidissement à double face, offrent davantage de souplesse et de contrôle à l'utilisateur. Dans l'ensemble, JEM 2100F est un choix idéal pour une large gamme d'applications de microscopie électronique en raison de ses hautes performances, de ses capacités d'imagerie détaillée et d'analyse. Sa facilité d'utilisation et son fonctionnement intuitif le rendent particulièrement adapté au laboratoire ou au cadre de recherche, ce qui en fait un atout de grande valeur.
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