Occasion JEOL JEM 2100F #9255945 à vendre en France

JEOL JEM 2100F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une imagerie de haute qualité, haute résolution et l'analyse des échantillons. Ce SEM avancé offre une résolution et un contraste améliorés, des temps d'imagerie plus courts et une meilleure capacité de préparation des échantillons. Ses optiques électroniques avancées offrent un large éventail de modes d'imagerie et de correction adaptés aux besoins des chercheurs exigeants. La source d'électrons de JEM 2100F utilise un canon Schottky à émission de champ avec filament de tungstène, lui permettant de produire des électrons de haute énergie rapidement et efficacement. La gamme de tension d'accélération est de 5 à 20 kV, avec une résolution précise de +/- 0,1 V et un courant d'électrons allant jusqu'à 0.9μA. L'échantillon est balayé électroniquement par 30kV-20μA faisceau qui peut être actionné à différentes résolutions, selon les objectifs d'imagerie. Le SEM est également équipé d'une option de détection de région à balayage rapide pour améliorer la vitesse et la résolution d'imagerie par rapport aux modes d'imagerie standard à haute résolution (SHR). La suite d'images du système comprend des images hautes et basses, ce qui offre aux chercheurs une gamme de possibilités d'obtenir des images entières d'échantillons. De plus, le mode Full-auto Navigation (FAN) permet à l'utilisateur d'accéder rapidement et avec précision à toute zone d'intérêt sur l'échantillon sans réglage manuel de la position du faisceau et de l'amélioration de l'image. Le mode FAN est idéal pour les utilisateurs souhaitant explorer des domaines d'intérêt plus profondément que possible avec les techniques SEM classiques. JEOL JEM 2100F est également équipé d'une gamme d'accessoires spécialisés de pointe, dont une unité de changement d'échantillon télécommandée, une console de commande détachée et un système d'imagerie de diffraction automatisé pour l'analyse de la structure cristalline. Les modules optionnels d'alignement avancé et d'auto-échantillonnage permettent à l'utilisateur d'aligner et de manoeuvrer avec précision le faisceau sur l'échantillon avec une facilité contrôlée par ordinateur. JEM 2100F est idéal pour des applications telles que l'imagerie transversale et haute résolution des biomatériaux et l'analyse détaillée des nanomatériaux. Avec sa capacité d'imagerie et d'analyse haute résolution, JEOL JEM 2100F fournit une solution complète de microscope électronique à balayage pour les chercheurs exigeant un contrôle total et une précision maximale lors de l'étude des échantillons.