Occasion JEOL JEM 2100F #9269139 à vendre en France

JEOL JEM 2100F est un microscope électronique à balayage (SEM) équipé pour des applications d'analyse et d'imagerie. Cet équipement est conçu pour permettre l'imagerie de routine dans divers domaines, y compris la science des matériaux, les sciences de la vie, l'électronique et la métallurgie. Le microscope est équipé du canon FEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission qui fonctionne à haute énergie et à haute tension pour des applications d'imagerie et d'analyse à haute résolution. JEM 2100F est équipé d'un appareil photo numérique et d'un système d'imagerie haute résolution, offrant une résolution d'image claire et détaillée à faible grossissement. Le canon FEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission offre une densité de courant électronique accrue, ce qui améliore les capacités d'imagerie. De plus, l'unité d'imagerie CsIS dans la lentille et la modulation de la tension d'accélération des électrons dans la lentille permettent d'améliorer la qualité de l'image et le contrôle des canons à électrons. Le canon FEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission peut fonctionner à une gamme d'énergies allant de 1 à 30 kV, ce qui permet de fonctionner à des énergies faibles à élevées pour répondre aux exigences particulières d'imagerie ou d'analyse. Le pistolet dispose d'une imagerie numérique haute résolution activée par la CsIS in-Lens Imaging Machine, permettant la capture détaillée des caractéristiques de surface et l'imagerie haute résolution des structures topographiques fines. JEOL JEM 2100F offre également une gamme de capacités analytiques. La spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX) est disponible pour l'analyse élémentaire, offrant une analyse rapide des matériaux. En outre, la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) est disponible pour l'identification des alliages et la production de cartographie de l'orientation des cristaux. Les données de l'outil d'imagerie peuvent également être utilisées pour des reconstructions 3D précises de structures d'échantillons, permettant la visualisation de structures de volume. Enfin, le MJE 2100F est équipé d'un grand étage avec commande de mouvement à 5 axes, assurant une navigation précise des échantillons. Associé à une variété d'étriers, de supports et de supports d'échantillons, le microscope permet une flexibilité pour une gamme d'échantillons. Une fois les échantillons sur scène, un outil de détection DEIpre Focus est disponible pour localiser avec précision les zones d'intérêt pour l'imagerie et l'analyse.