Occasion JEOL JEM 2100F #9300950 à vendre en France

JEOL JEM 2100F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) à haut degré d'emballage combiné avec une haute résolution. Il a une combinaison supérieure de conditions, qui sont optimisées pour une qualité d'image fiable et reproductible. Le microscope est conçu pour une performance optimale dans les études à basse et haute résolution et pour l'imagerie de toute morphologie de surface. JEM 2100F a une source d'électrons FEG de 10 keV avec un filtre d'énergie dans la colonne, des détecteurs de canaux supérieur/inférieur, ainsi qu'une impressionnante chambre de 35 mm de large. La source FEG maintient une très faible émission, de sorte qu'elle génère une image très uniforme lors de l'imagerie avec basse ou haute résolution. Il a également un faible courant de faisceau, en maintenant les performances et la stabilité. Les détecteurs double EDS assurent une analyse rapide et précise de la composition. Le microscope est équipé d'un système d'auto-alignement tridimensionnel qui aligne automatiquement la colonne électronique sur les bobines sinusoïdales. Cela facilite également le maintien d'un alignement correct lors de l'imagerie basse ou haute résolution. La grande ouverture le rend idéal pour l'imagerie de grandes zones avec une couverture uniforme. La combinaison d'un fort grossissement avec une petite distance de travail améliore la qualité et la résolution de l'image. JEOL JEM 2100F est un instrument polyvalent qui peut être utilisé pour diverses applications. Il est conçu pour l'imagerie d'une gamme de types de spécimens, y compris des cellules et des bactéries, des particules et des fibres, des films minces et des structures stratifiées, ainsi qu'une gamme de matériaux tels que les métaux, la céramique et les composites. Il est idéal pour l'imagerie haute résolution, l'analyse élémentaire et structurelle. JEM 2100F offre une excellente précision d'image et d'analyse, des temps de balayage plus rapides et une répétabilité supérieure. Les systèmes à double détecteur permettent une acquisition de données plus rapide et une meilleure résolution que les systèmes à détecteur unique. Parallèlement, les caractéristiques de focalisation fine et de petite hauteur de pas de faisceau permettent d'obtenir des images précises et très détaillées. Dans l'ensemble, JEOL JEM 2100F est un microscope précieux pour l'imagerie et l'analyse de divers spécimens et matériaux. Il offre une résolution supérieure, une imagerie haute vitesse et une stabilité maximale, permettant aux utilisateurs d'obtenir les résultats complets dont ils ont besoin rapidement et avec précision.