Occasion JEOL JEM 2200FS #293587150 à vendre en France

JEOL JEM 2200FS est un microscope électronique à balayage innovant (SEM) capable de produire des images à haute résolution et des analyses détaillées de spécimens. L'optique électronique très efficace de JEM 2200FS fournit des images de haute qualité avec une résolution ultime de 1.2nm. Les capacités d'imagerie secondaire et rétrodiffusée à haute résolution permettent une caractérisation précise et détaillée des caractéristiques du niveau atomique du spécimen. JEOL JEM 2200FS utilise une source d'émission sur le terrain, qui garantit une grande luminosité et de faibles niveaux de bruit. De plus, le courant de la sonde est réglable entre 1pA et 10nA, ce qui permet une large gamme d'applications d'imagerie. Le système de déviation du faisceau du SEM utilise un champ électromagnétique avec une taille de champ uniforme et une large gamme d'angles de déviation pour corriger tout basculement ou dérive de l'échantillon. Le mode de balayage du faisceau et les commandes de fonctionnement offrent une grande souplesse dans le contrôle des paramètres du faisceau d'électrons, permettant une résolution incroyable et une imagerie à fort grossissement. La chambre du MJE 2200FS peut accueillir une grande variété d'échantillons, des échantillons classiques aux objets 3D et même aux échantillons biologiques. De plus, ce SEM est équipé d'un ensemble de systèmes de revêtement automatisés pour la préparation des échantillons. Ce processus automatisé permet une grande uniformité et répétabilité, garantissant que les échantillons sont correctement préparés pour l'analyse. En outre, JEOL JEM 2200FS supporte une variété de détecteurs de signaux, y compris un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffuseur, un détecteur d'électrons de signal et un détecteur de rayons X dispersif d'énergie. Ces détecteurs sont conçus pour capturer les détails fins de la composition de l'échantillon, permettant une analyse approfondie. Dans l'ensemble, JEM 2200FS est l'un des meilleurs SEM disponibles. Son excellente optique électronique, ses capacités de détection avancées, ses systèmes de revêtement automatisés et son large éventail de caractéristiques de performance en font un choix idéal pour diverses tâches d'imagerie et d'analyse.