Occasion JEOL JEM 2200FS #293587150 à vendre en France
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ID: 293587150
Transmission Electron Microscope (TEM)
Performance parameters:
FEG with ZrO/W(100) Schottky emitter
Point resolution: 0.23 nm
Line resolution: 0.10 nm 3-stage
Intermediate lens system: 4-stage
Projective: 2-stage
Rotation-free imaging
Innovative goniometer with 5-axis position control
Piezo drive directions: X, Y
Sample holder system with double O-Ring seal and ultra-clean high vacuum pump
Cold trap
Automatic heating system
Sub-control systems: High voltage, goniometer, control panel
Vibration damping type: Air mount
Screenless operation via HDTV Camera system 1344 x 1024 pixels
EM-FS:
In-column filter system
(4) Sector magnets
Motor controlled 4-fold input panel
Energy filtering: TEM, STEM
Isochromaticity: <1 eV via 2k CCD Chip
Geometric distortion: <1 %
Detector resolution: used camera system
Spectra CCD Camera, Film-negative
Spectroscopy:
Filter energy resolution: <0.15 eV
EELS spectra speed: up to 50ms / Spektrum
Dispersion detector level: 50-400u/eV (at 200 kV)
GATAN UltraScan 1000 approx. 0.28-0.035 eV/pixel
Readout speed: up to 10 spectra/sec
Motor-controlled energy selection slot
702-70P-FEF:
GATAN In-column filter
Ratio map
704-00P: EELS analysis (704,00P)
EM-20590: Electrode short voltages 200 kV
EM-07320: Motorized lens hood for HR, HT, CR or HC pole shoe
EM-20360:
Motorized Hard X-Ray Aperture
EDX analysis for UHR Polschuh
JEM-2200FS:
STEM
Digital raster transmission unit
EM-20670: Primary jet catcher
EM-24580: Dark field imaging detector system, STEM
EM-24630UH:
Dark field imaging detector system
STEM, EELS
EM-21301: Piezoelement controlled
994.20P.2:
GATAN UltraScan1000XP
CCD Camera 2048 x 2048 pixels 100/200keV
Specification:
Sensor: 2048 x 2048 Pixels (à 14um) Full Frame CCD
Scintillator: HCRTM Phosphor scintillator (P+)
Coupling: HCRTM Fiber optics
Binning: 1x, 2x, 4x, 8x
Readout speed: 4.0Mpix/sec (4x1MHz)
Frame Rate: 5fps at 4x binning, 512 x 512 pixels
Digitization: 16Bit
Readout noise: <20CCDe- at 1MHz
MTF: 25% at 1/2 Nyquist (100kV), 17% at 12 Nyquist (200kV)
Cooling temperature: < -24°C
Camera head
UltraScan camera housings
TEM Adapter
Post-Specimen shutter control
lEEE1394b Computer interface
IBM-Compatible computer system
Fully motorized bezels
TFT Monitor
Operating system: Windows
Power supply: 80, 100, 120, 160, 200 kV
PC.
JEOL JEM 2200FS est un microscope électronique à balayage innovant (SEM) capable de produire des images à haute résolution et des analyses détaillées de spécimens. L'optique électronique très efficace de JEM 2200FS fournit des images de haute qualité avec une résolution ultime de 1.2nm. Les capacités d'imagerie secondaire et rétrodiffusée à haute résolution permettent une caractérisation précise et détaillée des caractéristiques du niveau atomique du spécimen. JEOL JEM 2200FS utilise une source d'émission sur le terrain, qui garantit une grande luminosité et de faibles niveaux de bruit. De plus, le courant de la sonde est réglable entre 1pA et 10nA, ce qui permet une large gamme d'applications d'imagerie. Le système de déviation du faisceau du SEM utilise un champ électromagnétique avec une taille de champ uniforme et une large gamme d'angles de déviation pour corriger tout basculement ou dérive de l'échantillon. Le mode de balayage du faisceau et les commandes de fonctionnement offrent une grande souplesse dans le contrôle des paramètres du faisceau d'électrons, permettant une résolution incroyable et une imagerie à fort grossissement. La chambre du MJE 2200FS peut accueillir une grande variété d'échantillons, des échantillons classiques aux objets 3D et même aux échantillons biologiques. De plus, ce SEM est équipé d'un ensemble de systèmes de revêtement automatisés pour la préparation des échantillons. Ce processus automatisé permet une grande uniformité et répétabilité, garantissant que les échantillons sont correctement préparés pour l'analyse. En outre, JEOL JEM 2200FS supporte une variété de détecteurs de signaux, y compris un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffuseur, un détecteur d'électrons de signal et un détecteur de rayons X dispersif d'énergie. Ces détecteurs sont conçus pour capturer les détails fins de la composition de l'échantillon, permettant une analyse approfondie. Dans l'ensemble, JEM 2200FS est l'un des meilleurs SEM disponibles. Son excellente optique électronique, ses capacités de détection avancées, ses systèmes de revêtement automatisés et son large éventail de caractéristiques de performance en font un choix idéal pour diverses tâches d'imagerie et d'analyse.
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