Occasion JEOL JEM 2200FS #293748666 à vendre en France

JEOL JEM 2200FS est un microscope électronique à balayage conçu pour une résolution et une qualité d'image supérieures. Il utilise une source d'électrons d'émission de champ, un type spécial de canon à électrons qui fournit des caractéristiques plus stables et des performances plus élevées qu'un canon thermionique. L'instrument offre une résolution de haute énergie allant jusqu'à 0,05nm, et sa taille de 1.2nm est idéale pour les processus d'imagerie. Ses caractéristiques analytiques comprennent un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie, des spectromètres de perte d'énergie et une gamme de filtres, permettant aux utilisateurs d'analyser des échantillons avec une gamme de techniques. En outre, il est équipé d'un système de contrôle informatique avec un porte-échantillon 3D pour permettre un mouvement précis dans trois axes distincts. Le MJE 2200FS est également conçu pour la sécurité, avec un système de pompe à sec à commande numérique en cercle fermé, ce qui signifie qu'aucune dégradation de l'échantillon ne se produira à partir des opérations de vide essentielles. Ceci, associé à sa conception fermée, offre une grande protection des échantillons. Le microscope est livré avec une gamme de fonctionnalités supplémentaires, telles qu'un étage de contraste élevé SE et ESB, l'imagerie numérique et l'auto-nivellement, et le mode d'imagerie MIEF. Son unité d'imagerie numérique lui permet également de réaliser rapidement des images de structure cristalline. Dans l'ensemble, cet instrument est idéal pour l'imagerie de surface d'échantillons, la mesure à l'échelle des nanomètres, l'étude de matériaux polycristallins, ainsi que la microanalyse de matériaux métalliques, semi-conducteurs et organiques. Il est adapté à une gamme de domaines dans les sciences des matériaux, les sciences de la vie, l'ingénierie, et plus encore. Grâce à ses caractéristiques, il est de plus en plus populaire auprès des chercheurs et des utilisateurs industriels.