Occasion JEOL JEM 2500SE #9257409 à vendre en France

JEOL JEM 2500SE est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une large gamme de recherches et d'applications industrielles. Ce modèle est un équipement d'imagerie de pointe capable d'imagerie haute résolution, haute luminosité et d'analyse d'échantillons dans les modes d'émission de champ et thermique/d'émission de champ. Il dispose d'une multitude de fonctionnalités conçues pour améliorer l'expérience utilisateur, telles que des performances optiques supérieures, une grande profondeur de champ, et l'alignement précis du système d'imagerie. Cette combinaison de fonctionnalités et de technologies offre des capacités d'imagerie et d'analyse inégalées. L'unité optique de JEM 2500SE est construite autour d'une colonne monoculaire qui fournit des capacités d'imagerie et d'analyse de haute performance. Il dispose d'une source de rayons X de l'anode de tungstène et d'une machine de balayage de 18 faisceaux pour l'imagerie la plus haute résolution. Ceci est combiné avec un canon à électrons à émission de champ avec une grande stabilité électrostatique, ce qui se traduit par les niveaux les plus élevés de luminosité de l'image. Ceci est en outre complété par un outil de grande profondeur de champ, permettant d'imiter des objets de hauteurs différentes à l'intérieur d'un échantillon sans déplacer l'échantillon. Enfin, il existe un atout automatisé d'alignement des échantillons qui assure un alignement précis du modèle d'imagerie. JEOL JEM 2500SE est capable de générer des images avec une résolution inférieure à 1,0 nm en mode électron secondaire et 0,7 nm en mode électron rétrodiffuseur. Cela le rend parfait pour l'observation et l'analyse de structures fines et même de molécules individuelles. En outre, cet équipement d'imagerie peut détecter la présence de oligo-éléments dans l'échantillon avec un niveau de sensibilité élevé, du fait de son fonctionnement à basse tension. Le système d'imagerie du MJE 2500SE est équipé d'un logiciel convivial pour le traitement d'images et l'analyse de spécimens. Ces fonctionnalités offrent une large gamme de fonctions automatisées qui simplifient grandement la tâche de l'utilisateur. De plus, il est capable de présenter des images en direct et de s'intégrer à d'autres systèmes d'imagerie et d'analyse. En ce qui concerne la préparation des échantillons, JEOL JEM 2500SE offre plusieurs options pour la manipulation des échantillons. Il est compatible avec les grilles SEM ainsi que les porte-échantillons SEM. En outre, il dispose d'une chambre d'échantillonnage SEM environnementale en option avec des contrôles intégrés de température, de gaz et d'humidité. Enfin, afin de maximiser la durée de vie de l'échantillon, il comporte également une fonction de stabilisation qui maintient la position du porte-échantillon avant l'imagerie. Dans l'ensemble, JEM 2500SE est un puissant microscope électronique à balayage conçu pour un large éventail de recherches et d'applications industrielles. Ses caractéristiques et technologies le rendent idéal pour l'imagerie haute résolution, l'analyse des oligo-éléments et l'imagerie sous-nanométrique. Ses fonctionnalités conviviales et ses fonctions automatisées simplifient la tâche des utilisateurs, tandis que ses options de préparation/manipulation des échantillons offrent une durée de vie maximale des spécimens.