Occasion JEOL JEM 2500SE #9373226 à vendre en France

JEOL JEM 2500SE est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications d'imagerie et d'analyse à haute résolution. Il est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) source d'électrons, qui fournit une source lumineuse d'électrons pour l'inspection et l'analyse. La source d'électrons FEG se compose d'un réseau d'émetteurs bipolaires, qui prolonge la durée de vie de la source et fournit des images de qualité fiables. Le microscope est équipé d'une variété de détecteurs, dont un détecteur d'électrons secondaires (SE), un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) et un détecteur de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). Tous les détecteurs offrent une excellente qualité d'image et une grande sensibilité. JEM 2500SE dispose de capacités d'imagerie avancées qui permettent l'imagerie d'une grande variété d'échantillons. Le système de détection SE réglable permet à l'utilisateur de choisir le mode d'imagerie le plus approprié, tandis que la grande profondeur de champ permet aux utilisateurs de capturer des images de différentes zones à l'intérieur d'un même échantillon. La source d'électrons FEG pré-alignée et l'optique Wolter maintiennent la qualité d'image constante pendant le balayage et le réglage de la focale. Le porte-échantillon inclinable est capable d'un basculement résiduel élevé et d'une modulation d'image précise, permettant l'observation de structures fines en trois dimensions. La chambre de travail fermée de JEOL JEM 2500SE permet aux utilisateurs de travailler avec un large éventail d'échantillons sans compromettre les conditions de vide. La chambre est conçue pour minimiser la contamination de l'échantillon et du détecteur, évitant ainsi tout endommagement de l'échantillon. Les contrôleurs numériques ajustent avec précision la tension d'accélération et assurent une résolution maximale des images, même aux grossissements maximums. De plus, le système de navigation automatisé comprend une caméra haute performance pour une navigation facile dans l'échantillon. JEOL JEM 2500S est capable d'effectuer un large éventail de techniques analytiques telles que l'analyse des particules, l'analyse élémentaire, l'analyse de phase et la cartographie élémentaire. Le détecteur EDS détermine avec précision la composition élémentaire de l'échantillon, tandis que le détecteur de phase permet à l'utilisateur d'identifier la distribution de phase de l'échantillon. De plus, le MJE 2500SE est capable de sonder des échantillons avec son détecteur rétrodiffusé et de produire un rapport basé sur les résultats de l'enquête. JEOL JEM 2500SE est également équipé d'un logiciel facile à utiliser qui permet aux utilisateurs d'accéder à tous les paramètres d'imagerie et d'analyse. De plus, son interface intuitive conviviale et ses programmes puissants permettent aux utilisateurs de personnaliser leurs paramètres de microscope en fonction de leurs besoins spécifiques. Toutes les acquisitions et analyses de données peuvent être effectuées rapidement et efficacement avec le MJE 2500SE.