Occasion JEOL JEM 3010 #9376084 à vendre en France

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ID: 9376084
Transmission Electron Microscope (TEM) (5) Holders LaB6 Filament OXFORD EDS System Image acquisition: AMT 1K x 1K GATAN Orius camera Option: OXFORD Active noise canceler Resolution: 0.17 nm point 0.1 nm line Sample holders: Single holder Double tilt holder Beryllium holder Cryo holder Heating / Electric holder Accelerating voltage: 300 kV.
JEOL JEM 3010 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications industrielles et de recherche. Il est capable d'atteindre des résolutions d'image jusqu'à 1.2nm, ce qui donne des images extrêmement détaillées des surfaces et des structures. JEM 3010 est équipé d'une sonde électronique de grande puissance permettant une profondeur d'imagerie de champ supérieure et un rapport signal sur bruit supérieur, en particulier pour les applications à faible kV. JEOL JEM 3010 dispose d'une grande pièce polaire très stable et d'un ensemble de canons à électrons grand angle qui offre une qualité supérieure de faisceau d'électrons et une stabilité solide sur une large gamme de conditions de fonctionnement. Cette configuration permet à JEM 3010 de maintenir un courant de faisceau constant et une tension accélérée, même pendant des périodes d'observation prolongées. Sage instrumentation, JEOL JEM 3010 est équipé d'un système d'imagerie numérique haute vitesse qui permet une acquisition d'image rapide et fiable. Il est en outre équipé d'un système intégré et entièrement automatisé d'imagerie numérique sans lentille qui réduit le temps d'imagerie et contribue à tirer le meilleur parti de l'espace disponible. Pour l'analyse des échantillons et des spécimens, le MJE 3010 est équipé d'un système d'échantillonnage automatisé qui permet un positionnement contrôlé des échantillons à l'étape de l'examen. Il dispose également d'un détecteur EDX intégré qui mesure l'énergie et le nombre d'électrons atteignant l'échantillon. Cela permet une analyse élémentaire précise des échantillons, rendant JEOL JEM 3010 adapté pour le contrôle de la qualité et la surveillance des processus. JEM 3010 propose également des fonctionnalités supplémentaires telles qu'un moniteur vidéo intégré, un contrôle de scène automatisé, des systèmes intégrés d'analyse granulométrique et des accessoires optionnels pour la gravure d'échantillons et l'électrochimie in situ. Toutes ces fonctionnalités font de JEOL JEM 3010 un outil puissant et polyvalent pour les applications industrielles et de recherche.
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