Occasion JEOL JEM 3200FS #293796361 à vendre en France

JEOL JEM 3200FS est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) qui combine l'imagerie haute résolution, plus les techniques d'analyse avancées, dans un seul instrument. Les fonctions d'imagerie et d'analyse avancées de JEM 3200FS sont activées par sa source d'électrons d'émission en champ froid qui crée un faisceau d'électrons extrêmement faible aberration et sa conception révolutionnaire de nouveaux canaux de signal. Cela permet à JEOL JEM 3200FS d'obtenir des images haute résolution et des résultats analytiques supérieurs. La source d'émission du champ froid permet également au MJE 3200FS de minimiser les vibrations environnementales et la dérive pour la stabilité ultime de l'imagerie. JEOL JEM 3200FS fournit une variété de modes d'examen, y compris l'imagerie SE (électrons secondaires), la cartographie BSEM (électrons rétrodiffusés), l'imagerie par contraste de diffraction, la cathodoluminescence (CL) et la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM). Il peut également représenter des échantillons non conducteurs en mode SE véritable sans revêtement de carbone et difficilement photographiables en mode basse dépression (LV). Les capacités analytiques de JEM 3200FS comprennent la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), la cartographie par fluorescence X (XRF), la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD), l'imagerie par chimie EDS, l'imagerie par filtre d'énergie (EFI) et l'analyse par sonde d'hydrogène (HPA). JEOL JEM 3200FS est équipé d'une gamme complète d'accessoires de chambre, y compris un support ESD/TEM, une tasse Faraday, un extracteur RF et un mandrin électrostatique, qui peut accueillir des échantillons de différentes tailles et formes. Les accessoires de chambre garantissent des mesures plus efficaces et précises, et offrent une plate-forme idéale pour une variété de techniques d'imagerie et d'analyse. JEM 3200FS dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive (GUI) et d'un fonctionnement automatisé par la « commande intelligente » intégrée. Cela permet aux utilisateurs d'exécuter des expériences complexes sans effort, et de simplifier le traitement de grandes quantités de données avec des commandes simples. JEOL JEM 3200FS fournit également une gamme de fonctionnalités liées à l'ordinateur, y compris le contrôle d'exploitation en temps réel, l'aperçu à l'écran des options de fonction, et des utilitaires d'enregistrement et de lecture automatiques. En plus de ces fonctionnalités, JEM 3200FS offre un système de réseau pour soutenir plusieurs utilisateurs. Dans l'ensemble, JEOL JEM 3200FS est un microscope électronique à balayage polyvalent et puissant qui combine des capacités d'imagerie haute résolution et d'analyse avancée dans un seul instrument. Les techniques d'imagerie avancées avec d'excellentes résolutions et une grande profondeur de champ font du MJE 3200FS un outil idéal pour étudier la structure et la composition des échantillons les plus complexes.