Occasion JEOL JEM 3200FS #9281736 à vendre en France

JEOL JEM 3200FS est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui utilise un canon à électrons à émission de champ froid pour acquérir des images et des données à haute résolution. Le canon à émission en champ froid permet à la technologie de rester stable dans le temps, lui permettant de fournir des images cohérentes et fiables. Le SEM produit des images à haute résolution à partir d'un échantillon aussi petit qu'un seul nanomètre et assure le contrôle automatique des électrons incidents et secondaires pour une résolution optimale et une réduction du bruit. Pour minimiser les effets de charge, le SEM utilise un système à basse dépression intégré. De plus, les trois lentilles circulaires de canon à électrons utilisent des optiques magnétiques pour obtenir une plus grande résolution tout en offrant un excellent contraste d'image et une grande profondeur de champ. JEM 3200FS est livré avec une variété de fonctionnalités pour l'analyse de la microscopie électronique à balayage à double faisceau (DB-SEM), y compris une chambre de transfert d'échantillons rapides à haute pression, une option d'imagerie à haute vitesse et des commandes d'étages d'échantillons. Ces caractéristiques donnent au SEM la capacité d'imiter un large éventail de composants d'échantillons, tels que les couches, les bords et les limites. Le SEM peut être utilisé pour analyser des techniques d'analyse 3D non destructive à haute résolution, de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD), de courant induit par faisceau d'électrons (EBIC) et de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). L'EDS simplifie l'analyse élémentaire, car elle aide à détecter et quantifier les composantes élémentaires à 0,1 % ou moins. JEOL JEM 3200FS est également capable de balayage de lignes et d'angles, de cartographie cellulaire et de piquage d'images. Le microscope est équipé d'une interface utilisateur graphique intuitive qui comprend une variété de menus opérationnels, ce qui permet aux utilisateurs d'accéder facilement à divers paramètres et paramètres. Le logiciel peut également être utilisé pour le fonctionnement à distance et l'acquisition de données à distance. Dans l'ensemble, JEM 3200FS fournit une imagerie haute résolution, des fonctionnalités avancées pour la microscopie électronique à balayage à double faisceau, et des logiciels intuitifs pour le fonctionnement à distance et l'acquisition de données. Incorporant son canon à électrons à émission de champ froid, le SEM permet des images fiables et cohérentes. En tant que telle, cette technologie est idéale pour l'imagerie d'une large gamme d'échantillons au niveau du nanomètre et pour effectuer une variété d'analyses élémentaires.