Occasion JEOL JEM 3200FS #9293906 à vendre en France

JEOL JEM 3200FS est un microscope électronique à balayage ultra haute résolution (SEM) utilisé pour l'imagerie d'une large gamme de matériaux. Cet instrument a été développé avec la contribution de diverses industries afin d'améliorer les capacités d'imagerie. Il offre aux utilisateurs des performances inégalées grâce à sa haute résolution et sa facilité d'utilisation. JEM 3200FS offre une large gamme de modes d'imagerie, y compris l'imagerie SEM standard, la métallographie avec le mode à vide bas, et l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB). Il dispose également d'une grande zone de balayage et est capable d'obtenir des grossissements plus élevés que ses prédécesseurs. JEOL JEM 3200FS est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) qui est capable de pression variable et de tensions d'accélération. Cela rend le système plus efficace et augmente à la fois la résolution d'image et la sécurité des échantillons. De plus, la FEG permet l'imagerie à un courant de faisceau d'électrons plus élevé, offrant une meilleure détection des couches minces ainsi qu'un plus grand contraste dans les images. L'instrument est également équipé d'une optique haute résolution comprenant un goniomètre double axe et un système d'auto-focus. Ceux-ci fournissent un contrôle précis et une plus grande précision lors de l'obtention des images. Le SEM dispose également de capacités avancées d'imagerie en champ sombre et retardées, permettant d'obtenir des images de contraste élevé rapidement et avec précision. JEM 3200FS est un instrument fiable et puissant conçu pour obtenir une large gamme d'informations d'image. Il offre une imagerie haute résolution et un large éventail de caractéristiques, ce qui en fait un choix idéal pour toute recherche, en particulier dans des domaines tels que la science des matériaux.