Occasion JEOL JEM 5510 LV #293602478 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 5510 LV (SEM) est un instrument qui permet l'imagerie à haute résolution et l'analyse de surface. C'est le choix idéal pour les chercheurs qui cherchent à obtenir des détails inégalés dans leur imagerie d'une variété de types de particules et de matériaux. JEM 5510 LV dispose d'une large gamme de fonctionnalités qui permettent aux chercheurs de personnaliser leur imagerie à l'application spécifique. L'imagerie haute résolution de JEOL JEM 5510 LV est réalisée par l'utilisation d'une conception de colonne dans la lentille et d'une source d'électrons à haute luminosité. Cette source d'électrons, combinée au système de focalisation dynamique, offre une gamme incroyablement large de grossissements allant de 10X à 2,000,000X. JEM 5510 LV offre également une gamme de modes d'imagerie tels que le balayage, l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie électronique rétrodiffusée. Les autres capacités d'imagerie comprennent l'étape d'échantillonnage à 4 axes, le détecteur à 4 quadrants, la distance Z automatisée et l'inclinaison à deux axes pour les séries d'imagerie et d'inclinaison à grande échelle. JEOL JEM 5510 LV dispose également d'une gamme de fonctionnalités avancées qui utilisent l'imagerie puissante, y compris la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie avancée (EDS) et la cartographie automatisée par balayage de ligne avec détection élémentaire. Avec l'EDS de JEM 5510 LV, les chercheurs sont en mesure d'analyser les distributions élémentaires et de déterminer l'hétérogénéité au niveau des microns et des sous-microns. La cartographie automatique avec détection élémentaire permet de créer facilement des distributions topographiques et d'identifier les éléments présents dans chaque pixel. Pour optimiser les images de particules et l'analyse, JEOL JEM 5510 LV est équipé d'une vaste gamme d'outils d'amélioration du contraste. JEM 5510 LV comprend des fonctionnalités telles que le contraste stigmatique et astigmatique automatisé, la détection et la minimisation stigmatiques automatisées, et divers outils d'amélioration du signal automatisé. En outre, JEOL JEM 5510 LV peut être intégré avec des systèmes de microscopie avancés, tels que la rétrodiffusion d'électrons et la cartographie des rayons X dispersifs d'énergie. Le microscope électronique JEM 5510 LV à balayage est un excellent choix pour les chercheurs qui exigent des images de haute qualité et une analyse détaillée des particules et des matériaux. Avec son large éventail de caractéristiques, les utilisateurs peuvent explorer leurs spécimens au niveau nano et micron avec des détails inégalés.