Occasion JEOL JEM 9320 #293758760 à vendre en France

ID: 293758760
Focused Ion Beam (FIB) system.
JEOL JEM 9320 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui offre des capacités d'imagerie haute résolution pour un large éventail d'applications en sciences des matériaux, sciences de la vie et nanotechnologie. Avec sa conception polyvalente et ses technologies de pointe, JEM 9320 est un instrument de puissance qui peut fournir des informations détaillées sur les structures micro et nano-échelle de différents échantillons. Une des caractéristiques clés de JEOL JEM 9320 est sa capacité d'imagerie haute résolution, qui permet aux utilisateurs de visualiser des échantillons avec une clarté et un détail exceptionnels. L'instrument est équipé d'une source d'électrons de haute luminosité et d'une optique électronique avancée, lui permettant d'atteindre des résolutions spatiales allant jusqu'à 0,4 nanomètres. Ce niveau de résolution permet d'observer des caractéristiques et des structures inférieures à la longueur d'onde de la lumière visible, ce qui rend JEM 9320 idéal pour étudier des matériaux et des dispositifs à l'échelle nanométrique. En plus de ses impressionnantes capacités d'imagerie, JEOL JEM 9320 offre également une gamme de techniques d'analyse qui peuvent fournir des informations précieuses sur la composition, la morphologie et les propriétés des échantillons. L'instrument est équipé de plusieurs détecteurs, y compris des détecteurs d'électrons secondaires, des détecteurs d'électrons rétrodiffusés et des détecteurs de spectroscopie X à dispersion d'énergie (EDS), qui permettent aux utilisateurs d'effectuer une analyse élémentaire et une cartographie des échantillons. La combinaison des capacités d'imagerie et d'analyse fait de JEM 9320 un outil polyvalent pour caractériser une grande variété de matériaux, des métaux et semi-conducteurs aux échantillons biologiques et aux polymères. JEOL JEM 9320 dispose également de systèmes avancés d'automatisation et de contrôle logiciel qui simplifient les processus d'imagerie et d'analyse, ce qui permet aux utilisateurs d'obtenir des données de haute qualité rapidement et efficacement. L'instrument est équipé d'interfaces logicielles conviviales qui permettent une navigation et un contrôle faciles des paramètres d'imagerie, ainsi que d'outils d'analyse de données qui permettent aux utilisateurs de traiter et de visualiser leurs résultats d'une manière claire et significative. En outre, JEM 9320 peut être personnalisé avec des accessoires et des options supplémentaires pour améliorer ses capacités, tels que des systèmes de cryo-transfert pour étudier des échantillons congelés ou des chambres environnementales pour mener des expériences dans des conditions de température et d'humidité contrôlées. En termes de manipulation et de manipulation des échantillons, JEOL JEM 9320 offre une gamme d'options pour accueillir différents types de spécimens. L'instrument dispose d'une grande taille de chambre qui peut accueillir des échantillons de différentes tailles et formes, ainsi que des options de plusieurs étages, y compris des étages motorisés qui permettent le mouvement automatisé de l'échantillon et la navigation. En outre, JEM 9320 est équipé d'outils avancés de préparation de spécimens, tels que les revêtements pulvérisateurs et les revêtements de carbone, qui sont essentiels pour optimiser la conductivité des échantillons et la qualité de l'image. Dans l'ensemble, JEOL JEM 9320 est un microscope électronique à balayage de pointe qui combine une imagerie haute résolution, des capacités analytiques avancées et une opération conviviale pour fournir aux chercheurs et aux scientifiques un outil puissant pour explorer le micro et le nano-monde. Qu'il soit utilisé pour la recherche universitaire, le contrôle de la qualité industrielle ou la caractérisation des matériaux, le JEM 9320 offre une performance exceptionnelle et une polyvalence qui en font un atout précieux dans n'importe quel laboratoire ou installation.
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